鏡片反射率測(cè)定儀
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產(chǎn)品名稱:
鏡片反射率測(cè)定儀
產(chǎn)品型號(hào):
USPM-RUⅢ
產(chǎn)品展商:
其它的品牌
產(chǎn)品價(jià)格:
0.00 元
簡(jiǎn)單介紹
USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發(fā)出的換代產(chǎn)品,是鏡片反射率測(cè)定儀的新機(jī)型。薄鏡片也不受背面反射光的影響,能實(shí)現(xiàn)高速、高精度的分光測(cè)定。
鏡片反射率測(cè)定儀的詳細(xì)介紹
采用全新的USPM-RUⅢ專用框架及設(shè)計(jì),提高了操作性能。
受臺(tái)Z方向的移動(dòng)范圍從35mm(原產(chǎn)品)擴(kuò)大到了85mm。
電源規(guī)格可對(duì)應(yīng)AC100V以及AC220V。 (請(qǐng)您在下訂單時(shí)注明電源規(guī)格。)
優(yōu)化了軟件的功能。(可顯示10次測(cè)定的功能等)
XY受臺(tái)移動(dòng)方向增加了比例尺。
更換鹵燈時(shí)不需調(diào)整燈的位置。
PC與Interface采用了USB式連接。
USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發(fā)出的換代產(chǎn)品,是鏡片反射率測(cè)定儀的新機(jī)型。薄鏡片也不受背面反射光的影響,能實(shí)現(xiàn)高速、高精度的分光測(cè)定。
主要用途
各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取頭鏡片等)
反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測(cè)定(單層膜)
消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系,消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測(cè)定表面的反射率。
可測(cè)定微小領(lǐng)域的反射率
用對(duì)物鏡對(duì)焦于被測(cè)面的微小區(qū)域(φ60μm),可測(cè)定鏡片曲面及鍍膜層脫落。
測(cè)定時(shí)間短
使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測(cè)定,可迅速實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測(cè)定。
XY色度圖、L*a*b*測(cè)定可能
以分光測(cè)定法為基準(zhǔn),從分光反射率情況可測(cè)定物體顏色。
Hard Coat(高強(qiáng)度鍍膜)膜厚測(cè)定可能
用干涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測(cè)定被測(cè)物的膜厚(單層膜)。
測(cè)定波長(zhǎng) | 380nm~780nm |
測(cè)定方法 | 與參照試料的比較測(cè)定 |
被測(cè)物N.A. | 0.12(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 0.24(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) ※與對(duì)物鏡的N.A不同 |
被測(cè)物W.D. | 10.1mm(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 3.1mm(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) |
被測(cè)物的曲率半徑 | -1R~-∞、+1R~∞ |
被測(cè)物的測(cè)定范圍 | 約φ60μm(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 約φ30μm(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) |
被測(cè)物再現(xiàn)性 | ±0.1%以下(2σ)(380nm~410nm測(cè)定時(shí)) ±0.01%以下(2σ)(410nm~700nm測(cè)定時(shí)) |
表示精度 | 1nm |
測(cè)定時(shí)間 | 數(shù)秒~十?dāng)?shù)秒(因取樣時(shí)間各異) |
光源規(guī)格 | 鹵燈 12V100W |
裝置重量 | 本體:約20kg(電腦、打印機(jī)除外) 光源用電源:約3kg、控制器:約8kg |
裝置尺寸 | 本體:300(W)×550(D)×570(H)mm 光源用電源:150(W)×250(D)×140(H)mm 控制器盒:220(W)×250(D)×140(H)mm |
電源規(guī)格 | 光源用電源:100V (2.8A)/220V AC 控制器盒:100V(0.2A)/220V AC |
使用環(huán)境 | 水平且無(wú)振動(dòng)的場(chǎng)所 溫度:23±5℃ 濕度:60%以下、無(wú)結(jié)露 |
軟件 | ■測(cè)定參數(shù)設(shè)定 ■分光反射率測(cè)定 ■物體顏色測(cè)定 ■膜厚(單層膜)測(cè)定 |
*作為特別訂貨,可對(duì)應(yīng)測(cè)定波長(zhǎng)為440nm~840nm。 |
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