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噪聲分析儀紡織檢測(cè)儀器 Toc分析儀 PT-303紅外測(cè)溫儀轉(zhuǎn)矩測(cè)試儀繼電保護(hù)試驗(yàn)儀定氮儀

北京金三航科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	ICT-33C集成電路測(cè)試儀 ICT-33C	ICT-33C集成電路測(cè)試儀器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷其型。器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。器件代換查詢：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致、引腳排列一致的器件型號(hào)。
	SHtek4250A集成電路測(cè)試系統(tǒng) SHtek4250A	SHtek4250A集成電路測(cè)試系統(tǒng)電路是半導(dǎo)體集成電路中的重要組成部分，通用中、小規(guī)模集成電路雖己應(yīng)用多年，但依然在各種民用電子產(chǎn)品和**電子裝備中發(fā)揮著重要的作用。由于通用中、小規(guī)模集成電路在我國(guó)電子產(chǎn)品和裝備中占有較大的使用比例，其品質(zhì)直接影響著各種電子整機(jī)和系統(tǒng)的性能和可靠性
	場(chǎng)效應(yīng)管綜合參數(shù)測(cè)試儀 shtek3400	場(chǎng)效應(yīng)管綜合參數(shù)測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 本儀器為測(cè)試場(chǎng)效應(yīng)管綜合參數(shù)的測(cè)試儀，可測(cè)BVdss 、Vgs（th）、Igss、Idss、Id(on)、Rds、Gfs場(chǎng)效應(yīng)管靜態(tài)參數(shù)。本儀器是采用計(jì)算機(jī)控制的智能化的測(cè)試儀器，具有測(cè)試速度快、操作靈活、使用方便特點(diǎn)，并具有存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，歷史數(shù)據(jù)查詢、打印測(cè)試數(shù)據(jù)等功能。
	shtek2400晶閘管綜合參數(shù)測(cè)試儀 shtek2400	shtek2400晶閘管綜合參數(shù)測(cè)試儀概述：shtek2400型晶閘管綜合參數(shù)測(cè)試儀是用于測(cè)量晶閘管的通態(tài)，斷態(tài)門極常用靜態(tài)參數(shù)的綜合性參數(shù)測(cè)量?jī)x器。shtek2400晶閘管綜合參數(shù)測(cè)試儀參數(shù)測(cè)量原理符合GB4024-83半導(dǎo)體器件反向阻斷三極晶閘管的測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定。
	模擬電路多參數(shù)篩選測(cè)試儀 GT2200A	GT2200A模擬電路多參數(shù)篩選測(cè)試儀集功能測(cè)試、參數(shù)測(cè)試于一體，專門用于各種單運(yùn)放、多運(yùn)放和電壓比較器的測(cè)量。
	數(shù)字集成電路篩選測(cè)試儀 GT2100A	GT2100A 數(shù)字集成電路篩選測(cè)試儀，利用**的多值參數(shù)比較法，可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測(cè)試的同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測(cè)試。GT2100A完全可以滿足IC用戶的參數(shù)測(cè)試要求。GT2100A是一種性能實(shí)用、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試可信度高、成本低廉的測(cè)試儀器。
	ICT-33C+集成電路測(cè)試儀 ICT-33C+	ICT-33C+集成電路測(cè)試儀EPROM、EEPROM器件讀入：ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。 EPROM、EEPROM器件寫入：ICT-33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中，并自動(dòng)校驗(yàn)。

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