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集成電路測試儀芯片檢測的基本原理
集成電路測試儀是對集成電路進行測試的專用儀器設(shè)備，集成電路的分類很多，主要大的分類有數(shù)字集成電路和模擬集成電路等。
集成電路測試儀芯片檢測的基本原理：
對于邏輯芯片的檢測，我們主要實現(xiàn)檢測芯片邏輯功能好壞亦或是確定芯片的型號，由于主控單元采用STC89c52單片機，其I/O與TTL電平完全兼容，因而直接由單片機對芯片插座的引腳進行掃描，由于是固定的14腳芯片，為了編程方便，使芯片測試引腳1~7分別為P1.0~P1.6，引腳14~8分別為P2.0~P2.6。
實現(xiàn)了通過單片機輸出端口模擬芯片的各種輸入狀態(tài)，并通過單片機讀回芯片的輸出結(jié)果，通過與芯片真值表的比較即可判斷芯片邏輯功能的好壞的目的。
在進行芯片掃描時，必須先將芯片的輸出引腳I/O置為高電平，然后對芯片的輸入引腳進行各種狀態(tài)的掃描，通過單片機讀回芯片的輸出，再依據(jù)芯片的真值表對其輸出進相比較，不一致則說明芯片的邏輯功能發(fā)生錯誤，斷定芯片為壞的，若芯片的輸出與真值表完全相符，則說明芯片的邏輯功能正確，可以判斷為好芯片。
然后再依據(jù)所檢測的結(jié)果，通過單片機對芯片的邏輯功能加以詳細測試，并對結(jié)果加以顯示。在自動識別的時候，為了提高準確度，我們編寫了程序，采用對同一端口兩次輸入再兩次讀回其狀態(tài)的比較方法，來對芯片好壞進行準確測試，繼而返回正確的芯片型號。

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