存儲器IC測試儀。對DRAM、SIMM、SRAM、VRAM、及PCMCIA卡提供即時的功能分析測試。提供多種測試模式。

*高容量64MB，*寬144位，且成本低廉全可編程。  

IC測試儀的主要功能：  

IST6500型存儲器功能參數(shù)測試儀：

在2NS基頻下，提供四種方法自動測試存取時間。 在2NS到160NS的各種器件（DRAM定時參數(shù)可編程提供1NS的基頻）從而實(shí)現(xiàn)實(shí)時測試。

兼?zhèn)溆懈咚匐p通道閾值比較器的可編程動態(tài)加載，允許用戶編程DUT輸出口負(fù)載，以達(dá)到一個寬的工作范圍。這一特性在SIMN器件測試鐘尤其重要，因為后者須經(jīng)常驅(qū)動，大容量小電阻的負(fù)載。 

6500通過RS-232與PC機(jī)接口，器機(jī)械手接口具有“料箱排序”功能，可將器件按照選定的工作參數(shù)進(jìn)行排序，這在工程元件特性或GO/NO GO測試中很具有典型意義。 IST6500易于編程，且存儲有100個不同的用戶自定義測試路徑，提供了器件的各種工作參數(shù)包括存取時間，工作電流，備用電流，數(shù)據(jù)保持電流，輸出負(fù)載，DUT電流源，定時參數(shù)，測試模式及邏輯閾值的自動引導(dǎo)測試或GO/NO GO測試，同時引導(dǎo)GO/NO GO 測試的參數(shù)的預(yù)置極限也可存儲在程序里。 

6500具備一系列完善的存儲測試模式，并向用戶提供短/長兩種測試模式，它能在*短的時間內(nèi)完成絕大多數(shù)RAM指標(biāo)的檢測。數(shù)據(jù)測試模式包括：

全1，全0，方格噪聲模式，步1，步0，列干擾，滑動斜行，移動倒置，這些模式能檢測存儲器芯片上及其他地址上的短路，開路或單值錯誤，也能檢測芯片干擾，信號轉(zhuǎn)換放大器干擾及噪聲靈敏度錯誤。