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ABI-AT192全品種集成電路測(cè)試儀的介紹
AT192全品種集成電路測(cè)試儀測(cè)試適用范圍：  
元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試
電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)（附加測(cè)試電纜線和各種封裝的測(cè)試夾）
測(cè)試原理（v-i曲線測(cè)試）： 
對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)**的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。
AT192全品種集成電路測(cè)試儀集成電路測(cè)試操作如此簡(jiǎn)單:  
1、從數(shù)據(jù)庫選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào)
2、將集成電路插入測(cè)試座
3、執(zhí)行測(cè)試
4、得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果
不需要電子專業(yè)知識(shí)，適用于所有集成電路/封裝件，及各種類型電路板，靈活、好安裝、宜操作，測(cè)試結(jié)果直接:PASS或FAIL，軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件，可提供完整的元件測(cè)試分析報(bào)告。

尊敬的客戶：
本公司除了有此產(chǎn)品介紹以外，還有電路板故障檢測(cè)儀，IC測(cè)試儀，電能質(zhì)量分析儀，諧波分析儀，諧波測(cè)試儀等等的介紹，您要是對(duì)我司的產(chǎn)品有興趣，歡迎來電咨詢。謝謝!