- 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話，可以
- 產(chǎn)品名稱：HLP-01,試驗探棒
- 產(chǎn)品型號：試驗探棒
- 產(chǎn)品展商：其它品牌
- 產(chǎn)品文檔：無相關(guān)文檔
簡單介紹
HLP-01,試驗探棒 符合:IEC1010,EN61010-1, UL3101-1,CSA 1010-1標準(品牌:美國.ED&D).TFP-01,Test Finger Probe (IEC試驗指),符合: IEC, EN,CSA,UL標準
產(chǎn)品描述
HLP-01,試驗探棒
TFP-01,Test Finger Probe (IEC試驗指),符合: IEC, EN,CSA,UL標準.(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(關(guān)節(jié)試驗指),符合UL標準.(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(UL關(guān)節(jié)試驗指)
| ACCESSIBILITY PROBES 試驗探針 |
| FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS Model HLP-01: 4.0mm Hazardous Live Parts Probe(試驗探棒)  
| Used to verify protection against access to hazardous parts through top openings. Meets IEC, EN, UL and CSA Standards including IEC 1010, EN61010-1, UL3101-1, and CSA 1010-1. The handle and stop face are made of Delrin. The rod is made of stainless steel. |
美國.ED&D產(chǎn)品服務(wù)于:IBM ，美國航空暨太空總署，英代爾，蘋果， NCR ，索尼公司，太陽，飛利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托羅拉， Mattel ，戴爾,3 Com 等公司;專為UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等試驗室提供檢測產(chǎn)品. |