- 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話，可以
- 產(chǎn)品名稱：TPP-01,Short Test Pin Probe
- 產(chǎn)品型號：試驗(yàn)短銷
- 產(chǎn)品展商：其他品牌
- 產(chǎn)品文檔：無相關(guān)文檔
簡單介紹
TPP-01: Short Test Pin Probe 試驗(yàn)短銷,符合IEC, EN, UL and CSA標(biāo)準(zhǔn),(品牌:美國.ED&D)
產(chǎn)品描述
| ACCESSIBILITY PROBES 試驗(yàn)探針 |
| FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS
Model TPP-01: Short Test Pin Probe 試驗(yàn)短銷
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Used to test accessibility through enclosure openings per IEC, EN, UL and CSA Standards. Body is Delrin, tip is stainless steel.
NOTE: Don’t ever purchase an all plastic version - the tip is too narrow to maintain tip rigidity!
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美國.ED&D產(chǎn)品服務(wù)于:IBM ，美國航空暨太空總署，英代爾，蘋果， NCR ，索尼公司，太陽，飛利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托羅拉， Mattel ，戴爾,3 Com 等公司;專為UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等試驗(yàn)室提供檢測產(chǎn)品.
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