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產(chǎn)品資料
納米顆粒粒度分析儀
如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱:
納米顆粒粒度分析儀
產(chǎn)品型號:
N4 PLUS
產(chǎn)品展商:
Metrohm萬通
產(chǎn)品價(jià)格:
0.00 元
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡單介紹
N4 PLUS納米顆粒粒度分析儀? 是同類產(chǎn)品中**采用六個(gè)角度(在0-900C角度范圍)檢測的儀器 ? 獨(dú)有的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖,快速判別樣品類型
產(chǎn)品描述
N4 PLUS納米顆粒粒度分析儀
主要特點(diǎn)
N4 Plus
是采用激光法測超細(xì)顆粒的粒度分析儀,激光法測顆粒度,是基于ISO13321標(biāo)準(zhǔn)分析顆粒粒度的一種方法,即利用運(yùn)動著的顆粒所產(chǎn)生的動態(tài) 的散射光,通過光子相關(guān)光譜分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析納米顆粒粒度,其特點(diǎn)是快速、準(zhǔn)確、分辨率高。
·
是同類產(chǎn)品中**采用六個(gè)角度(在0-900C角度范圍)檢測的儀器
·
獨(dú)有的指紋分析給出六角度的Unimodal分析圖,快速判別樣品類型
技術(shù)參數(shù)
測量范圍:
1-5,000nm
測量時(shí)間:
30-180
秒
重現(xiàn)性:
優(yōu)于3%CV
粒度分布:
可區(qū)別平均粒度比大于2.5的兩個(gè)峰
精度:
2-5%
樣品溫控范圍:
0-90℃±0.1 ℃
數(shù)據(jù)輸出:
平均粒度、粒度分布、擴(kuò)散系數(shù)及平均分子量
激光源:
10mW He-Ne
激光器,波長632.8nm
探測器:
六角度探測器
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