Felles 光學(xué)薄膜測厚儀 FR-EDU

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產(chǎn)品價格： < 面議

產(chǎn)品型號：FR-EDU

品牌：Felles

公司名稱：孚光精儀(中國)有限公司

所在地：天津南開區(qū)

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產(chǎn)品簡介

Felles 光學(xué)薄膜測厚儀是一款低價臺式光學(xué)薄膜厚度測量儀,可測量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透過率，薄膜反射率，熒光等，F(xiàn)elles 光學(xué)薄膜測厚儀也可測量膜層的厚度,光學(xué)常量（折射率n和k)。

產(chǎn)品詳細(xì)信息

Felles 光學(xué)薄膜測厚儀是一款低價臺式光學(xué)薄膜厚度測量儀,可測量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透過率，薄膜反射率，熒光等，F(xiàn)elles 光學(xué)薄膜測厚儀也可測量膜層的厚度,光學(xué)常量（折射率n和k)。

Felles 光學(xué)薄膜測厚儀特點

基于白光反射光譜技術(shù)，膜層的表面和底面反射的光VIS/NIR光譜，

是干涉型號被嵌入的光譜儀收集分析，結(jié)合多次反射原理，給出膜層的厚度和光學(xué)常數(shù)（n，k).

到貨即可使用，僅僅需要用戶準(zhǔn)備一臺計算機提供USB接口即可，操作非常方便。

Web: www.felles.cn                    （激光光學(xué)精密儀器官網(wǎng)）
         www.felles.cc                     （綜合性測試儀器官網(wǎng)）
   www.f-lab.cn     （綜合性實驗室儀器**官網(wǎng)）

Felles 光學(xué)薄膜測厚儀標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)
可測膜厚： 100nm-30微米；
波長范圍: 300-1000nm
探測器：650像素Si CCD陣列，12bit A/D
精度：1%
斑點大?。?.5mm
光源：鎢燈-汞燈（360-2000nm)
所測樣品大?。?0-150mm,
計算機要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；
尺寸：320x360x180mm
重量：9.2kg

Felles 光學(xué)薄膜測厚儀應(yīng)用
用于薄膜吸收率,透過率和熒光測量，
用于化學(xué)和生物薄膜測量，傳感測量
用于光電子薄膜結(jié)構(gòu)測量
用于半導(dǎo)體制造
用于聚合物薄膜測量
在線薄膜測量
光學(xué)薄膜厚度測量儀用于光學(xué)鍍膜測量