目前,探針的種類很多,包括了各種形狀和不同的制作材料。 IP防護等級試驗探針/探棒是坐標測量機的一部分,主要用來觸測工件表面工件表面,使得測頭的機械裝置移位,產(chǎn)生信號觸發(fā)并采集一個測量數(shù)據(jù)測量數(shù)據(jù)。一般試驗探針生產(chǎn)探針都是由一個桿和寶石球組成。通過需要測量的特征,您可以判斷應(yīng)當使用探針的類型和尺寸。在測量過程中,要求探針的剛性和測尖的形狀都達到盡可能*佳的程度。
IP防護等級試驗探針/探棒幾個主要的術(shù)語:A:測針直徑;B:總長;C:桿直徑有效工作長度。
總長:指的是從探針后固定面到測尖中心的長度有效工作長度。
(EWL):指的是從測尖中心到與一般測量特征發(fā)生障礙的探針點的距離選擇探針的原則:
為保證一定的測量精度,在對探針的使用上,探針長度盡可能短:探針彎曲或偏斜越大,精度將越低。因此在測量時,盡可能采用短探針。
連接點*少:每次將探針與加長桿連接在一起時,您就額外引入了新的潛在彎曲和變形點。因此在應(yīng)用過程中,盡可能減少連接的數(shù)目。
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