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粉體學(xué)-粒徑的測定方法介紹（包括篩分法等）
1 、顯微鏡法 本法主要測定幾何學(xué)粒徑。光學(xué)顯微鏡可以測定微米級的粒徑，電子顯微鏡可以測定納米級的粒徑。本法方便、可靠，能用于測定散劑、混懸劑、乳劑、混懸型軟膏劑等粉體粒徑，可測粒徑范圍為 0.2 ～100μm。

2 、篩分法 其是粒徑與粒徑分布測量中使用zui早、應(yīng)用zui廣，且簡單快速的方法。即利用篩孔將粉體機(jī)械阻擋的一種分級方法。將篩子由粗到細(xì)按篩號順序上下排列，將一定量的粉體樣品置于zui上層，振動一定時間，稱量各個篩號上的粉體重量，求得各篩號上的不同孔徑重量百分?jǐn)?shù)，由此獲得以重量為基準(zhǔn)的篩分粒徑分布及平均粒徑。

3 、庫爾特計數(shù)法 本法測得的粒徑為等體積球相當(dāng)徑，可以求得以個數(shù)為基準(zhǔn)的粒度分布或以體積為基準(zhǔn)的粒度分布，通常可用于測定粉末**、混懸液、乳劑、脂質(zhì)體等制劑，也可用于注射劑的不溶性微粒檢查。

4 、沉降法 是通過監(jiān)測混懸液粒子的沉降速度，利用粒子在液體介質(zhì)中的沉降速度與粒子大小的關(guān)系，即Stocks 定律，來測定粒子有效徑的方法。

5 、比表面積法 利用粉體的比表面積隨粒徑的減少而迅速增加的原理，通過粉體層中比表面積的信息與粒徑的關(guān)系求得平均粒徑的方法。

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