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雷尼紹TP200測(cè)頭系統(tǒng)

日期:2025-10-27 06:33
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摘要: 關(guān)于雷尼紹TP200 雷尼紹TP200系統(tǒng)組件包括: TP200或TP200B測(cè)頭本體(TP200B為另款,允許更大振動(dòng)公差) TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定超程測(cè)力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力)或LF(低測(cè)力) PI 200測(cè)頭接口 SCR200測(cè)針交換架 還有種EO模塊(長(zhǎng)超程),超程測(cè)力與SF相同,但工作范圍更大,并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。 雷尼紹TP200 測(cè)頭特性與優(yōu)點(diǎn) 應(yīng)變片技術(shù)具有無(wú)可比擬的重復(fù)性和的三維輪...

關(guān)于雷尼紹TP200

TP200系統(tǒng)配置雷尼紹TP200系統(tǒng)組件包括:

  • TP200或TP200B測(cè)頭本體(TP200B為另款,允許更大振動(dòng)公差)
  • TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定超程測(cè)力:SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力)或LF(低測(cè)力)
  • PI 200測(cè)頭接口
  • SCR200測(cè)針交換架

還有種EO模塊(長(zhǎng)超程),超程測(cè)力與SF相同,但工作范圍更大,并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。

 

 

 

 

 

 


雷尼紹TP200 測(cè)頭特性與優(yōu)點(diǎn)

  • 應(yīng)變片技術(shù)具有無(wú)可比擬的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量
  • 零復(fù)位誤差
  • 無(wú)各向同性影響
  • 六向測(cè)量能力
  • 測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm(GF測(cè)針)
  • 快速測(cè)頭模塊交換,無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖
  • 壽命 >1 000萬(wàn)次觸發(fā)


雷尼紹TP200 / TP200B測(cè)頭本體

TP200TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和的三維輪廓測(cè)量,即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。

傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。

請(qǐng)注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測(cè)針。

 


雷尼紹TP200規(guī)格

摘要 TP200 TP200B

主要應(yīng)用

需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 與TP200樣,但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。

傳感器方向

六軸:±X、±Y、±Z 六軸:±X、±Y、±Z

單向重復(fù)性 (2s μm)

觸發(fā)水平1:0.40 μm

觸發(fā)水平2:0.50 μm

觸發(fā)水平1:0.40 μm

觸發(fā)水平2:0.50 μm

XY(2D)輪廓形式測(cè)量偏差

觸發(fā)水平1:±0.80 μm
觸發(fā)水平2:±0.90 μm
觸發(fā)水平1:±1 μm
觸發(fā)水平2:±1.2 μm

XYZ (3D) 輪廓測(cè)量偏差

觸發(fā)水平1:±1 μm
觸發(fā)水平2:±1.40 μm
觸發(fā)水平1:±2.50 μm
觸發(fā)水平2:±4 μm
測(cè)針交換的重復(fù)性 SCR200:±0.50 μm(大)
手動(dòng):±1 μm(大)
SCR200:±0.50 μm(大)
手動(dòng):±1 μm(大)
測(cè)力(測(cè)尖) XY平面(所有模塊):0.02 N
Z軸(所有模塊):0.07 N
XY平面(所有模塊):0.02 N
Z軸(所有模塊):0.07 N
超程測(cè)力(位移為0.50 mm時(shí))

XY平面(SF/EO模塊):0.2 N至0.4 N
XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N
Z軸(SF/EO模塊):4.90 N
Z軸(LF模塊):1.60 N

XY平面(SF/EO模塊):0.2 N至0.4 N
XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N
Z軸(SF/EO模塊):4.90 N
Z軸(LF模塊):1.60 N

重量(測(cè)頭傳感器和模塊) 22 g 22 g
長(zhǎng)加長(zhǎng)桿(如配在PH10系列測(cè)座上) 300 mm 300 mm
推薦的大測(cè)針長(zhǎng)度(M2測(cè)針系列) SF/EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF

LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF

SF/EO模塊:50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF

LF模塊:20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF

安裝方式 M8螺紋 M8螺紋
適合的接口 PI200、UCC PI200、UCC

測(cè)針模塊交換架

自動(dòng):SCR200
手動(dòng):MSR1

自動(dòng):SCR200
手動(dòng):MSR1

測(cè)針系列 M2 M2

 


雷尼紹
TP200測(cè)針模塊

測(cè)針模塊通過(guò)高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭本體上,具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭超程保護(hù)功能。

有三種測(cè)針模塊可供選擇,具有兩種不同的超程測(cè)力。

模塊 SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力) LF(低測(cè)力) EO(長(zhǎng)超程)
應(yīng)用 般使用。 小直徑測(cè)球或必須使用小測(cè)力的場(chǎng)合。 額外超程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的碰觸速度下**停止并回退。
留言 測(cè)針長(zhǎng)可達(dá)100 mm,測(cè)球直徑 > 1 mm。 測(cè)球直徑小于1 mm。

與SF的超程測(cè)力相同。

測(cè)頭Z軸的額外超程為8 mm。


雷尼紹 
SCR200交換架

SCR200SCR200可對(duì)多六個(gè)TP200測(cè)針模塊進(jìn)行自動(dòng)高速交換。SCR200由獨(dú)立的測(cè)頭接口 — PI200供電,并可確保**的測(cè)針交換。SCR200套件可包含低測(cè)力和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力組件,每種套件都包含個(gè)SCR200加上三個(gè)測(cè)力相同的測(cè)針模塊。

規(guī)格  
高度 190 mm
寬度 245 mm