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產(chǎn)品資訊

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廣州市淘儀貿(mào)易有限公司
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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡單介紹
	界達(dá)電位/粒徑測量儀 ELSZ-2000	Otsuka 界達(dá)電位/粒徑測量儀ELSZ-2000可以用于測量稀溶液到濃溶液的界達(dá)電位、粒徑及分子量。 Otsuka 界達(dá)電位/粒徑測量儀ELSZ-2000適用于界面化學(xué)、無機(jī)物、半導(dǎo)體、高分子、生物、藥學(xué)、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究。
	顯微分光厚膜儀 OPTM	Otsuka 顯微分光厚膜儀可以用于測量目標(biāo)膜的反射率，高精度測量膜厚和光學(xué)常數(shù)。廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、食品、化工、半導(dǎo)體、材料科學(xué)以及電子行業(yè)。顯微分光厚膜儀產(chǎn)品的主要特點(diǎn)：厚膜測量的主要功能集中在顯微厚膜嵌入頭；利用顯微分光實(shí)現(xiàn)高精度反射率測量，分析多層薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)（n:折射率，k:消光系數(shù)）；單點(diǎn)對(duì)焦測量時(shí)間小于1s；顯微分光厚膜儀顯微下具有較寬的測定波長范圍（紫外～近紅外）；初學(xué)者也可以輕松的利用解析軟件進(jìn)行光學(xué)常數(shù)解析；搭載macro功能，可以自定義各種測量情況。

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