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產(chǎn)品名稱/型號
產(chǎn)品簡單介紹
EDM 5000 全自動密度計
EDM 5000 全自動密度計能實現(xiàn)**和快速的測量 EDM 5000 全自動密度計集成基準(zhǔn)振蕩管 EDM 5000 全自動密度計能自動檢測有無氣泡
全自動密度計 EDM 4000+
全自動密度計 EDM 4000+能**和快速的測量 全自動密度計 EDM 4000+集成基準(zhǔn)振蕩管 全自動密度計 EDM 4000+可自動檢測氣泡
三維光學(xué)輪廓儀NPFLEX
三維光學(xué)輪廓儀NPFLEX可配置硬件和軟件,滿足幾乎任何樣品、形狀或尺寸的測量需要。 崎嶇建筑,適應(yīng)嚴(yán)格的制造環(huán)境。 三維光學(xué)輪廓儀NPFLEX自動化測量例程,加快生產(chǎn)計量和分析結(jié)果。
三維光學(xué)輪廓儀HD 9800+
三維光學(xué)輪廓儀HD 9800+完全自動化,提供高速滑塊CCT和PTR特性。 三維光學(xué)輪廓儀HD 9800+****/傾斜頭,使快速自動化計量具有*高的重復(fù)性。 流線型軟件,簡化了操作員對操作員的數(shù)據(jù)存儲、分析和報告的使用。
三維光學(xué)輪廓儀ContourSP
三維光學(xué)輪廓儀ContourSP綜合性工業(yè)計量,實現(xiàn)快速、高精度的PCB生產(chǎn)控制。 三維光學(xué)輪廓儀ContourSP獨樹一幟的系統(tǒng)特征,確保*高的產(chǎn)量,*大的正常運行時間,*低的成本。 *高值吞吐量,提供2倍更快的數(shù)據(jù),而不影響準(zhǔn)確性。
三維光學(xué)輪廓儀Contour Elite X
三維光學(xué)輪廓儀Contour Elite X具有可靠光學(xué)測量,通知可量化的研發(fā)和QA/QC決定。 三維光學(xué)輪廓儀Contour Elite X的真色、成像揭示以前隱藏的微觀細節(jié)。 柔韌、分期和固定,根據(jù)您的具體樣本和應(yīng)用情況量身定做。
三維光學(xué)輪廓儀CONTEBGT-X
三維光學(xué)輪廓儀CONTEBGT-X完全自動化,提供*快,*簡單的納米尺度測量。 三維光學(xué)輪廓儀CONTEBGT-X可定制生產(chǎn)接口,提供流線型流程工作流、自動映射和負載測量配方。 三維光學(xué)輪廓儀CONTEBGT-X能自行校準(zhǔn),激光基準(zhǔn),確保*佳的生產(chǎn)計量,重復(fù)性和魯棒性。
全自動三維計量臺式機
Contracx-500
全自動三維計量臺式機配備**/傾斜光學(xué)頭,測量不同角度的表面特征,同時*小化跟蹤誤差。 全自動三維計量臺式機擁有*先進的用戶界面,提供對預(yù)編程過濾器和分析的廣泛庫的直觀訪問. 整合,空氣隔離,在節(jié)省空間的足跡中提供*佳的計量精度。
Contracex-100型光學(xué)輪廓儀
Contracex-100型光學(xué)輪廓儀具有行業(yè)*佳的Z軸分辨率提供恒定的,**的測量,獨立放大。 Contracex-100型光學(xué)輪廓儀擁有****的計量價值,提供流線型設(shè)計,而不損害測量能力。 用戶友好的軟件接口,提供對預(yù)編程過濾器和分析的廣泛庫的直觀訪問。
機械測試儀TriboLab CMP
機械測試儀TriboLab CMP****小規(guī)模研發(fā)系統(tǒng)中的 ROI,此臺式工具可再現(xiàn)全尺寸晶圓拋光工藝條件,而無需在生產(chǎn)設(shè)備上停機。 機械測試儀TriboLab CMP靈活參數(shù)控制,允許量身定制的測試,以加快材料開發(fā),并**優(yōu)化流程。 專家應(yīng)用和支持,我們與大型安裝基地合作多年,為您的實驗室提供專業(yè)知識。
機械測試儀UMT TriboLab
機械測試儀UMT TriboLab出色的模塊化,可適應(yīng)各種速度和扭矩,幾乎執(zhí)行所有可能的摩擦學(xué)測試。 機械測試儀UMT TriboLab廣泛的能力,模擬*廣泛的環(huán)境,實現(xiàn)****的測試范圍。 ****的易用性,無需學(xué)習(xí)復(fù)雜的腳本語言或編程。
Dektak XTL探針式輪廓儀
Dektak XTL探針式輪廓儀自動化設(shè)置和操作,基于參考位置和眾多測量位置進行編程,以*大限度地提高測試通量并*大限度地減少出錯。 Dektak XTL探針式輪廓儀雙攝像機控制,更快地簡化測量設(shè)置和定位到感興趣點。 容易分析和數(shù)據(jù)收集,自動執(zhí)行分析程序,僅報告復(fù)雜樣本上所需的特征。
納米力學(xué)測試儀器Hysitron TS75 TriboScope
納米力學(xué)測試儀器Hysitron TS75 TriboScope定量剛性探針,消除基于彈性懸臂的納米壓痕測試技術(shù)固有的不確定性和復(fù)雜性。 納米力學(xué)測試儀器Hysitron TS75 TriboScope直觀聯(lián)用接口,可簡便與流行的商用 AFM 的集成,包括布魯克的Dimension ICON, Dimension Edge和MultiMode 8等。
納米力學(xué)測試儀器Hysitron IntraSpect 360
納米力學(xué)測試儀器Hysitron IntraSpect 360° X射線,透明查看窗口,提供無遮擋的成像和簡化的材料變形 μCT 研究,包括斷裂和失效的發(fā)生。 納米力學(xué)測試儀器Hysitron IntraSpect 360獨特的三板電容式傳感器技術(shù),在材料失效的 4D 研究(如光纖矩陣接口的裂紋傳播或焊接接頭內(nèi)的空隙行為)期間,可提供****的穩(wěn)定性。
Hysitron IntraSpect 90納米壓痕儀
定量納米尺度到微米尺度力學(xué)測試,提供高達 500 mN 的載荷和 150 μm 的位移,具有****的噪音水平。 Hysitron IntraSpect 90納米壓痕儀具有高剛性框架的設(shè)計,輕松安裝在現(xiàn)有光學(xué)或拉曼顯微鏡平臺上。 Hysitron IntraSpect 90納米壓痕儀獨特PTP (壓轉(zhuǎn)拉)樣品安裝,允許通過同步的 Raman 光譜成像對光纖、電線和其他樣品進行單軸拉伸測試。
Hysitron BioSoft生物型納米壓痕儀
Hysitron BioSoft生物型納米壓痕儀定量力學(xué)性能測量,提供獨特的力靈敏度和位移范圍組合,專門設(shè)計用于測量從亞細胞到組織水平的生物樣品。 Hysitron BioSoft生物型納米壓痕儀*大化測試靈活性,輕松與倒置顯微鏡集成,以表征各種生物材料。 先進生物力學(xué)控制模塊,在單個測試中實現(xiàn)不同控制,包括載荷、位移和開環(huán)控制。
納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select
納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select的基本核心測試模塊,包括納米壓痕、動態(tài)納米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損和原位SPM成像。 納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TS 77 Select使用電容式傳感器技術(shù),提供高靈敏度和低熱漂移,在納米到微米尺度上實現(xiàn)可靠的表征。 直觀控制軟件和操作,讓操作員實現(xiàn)技術(shù)人員級的可靠測量。
納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI Premier
納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI Premier強大功能模塊,為準(zhǔn)靜態(tài)納米壓痕、動態(tài)表征、高溫特性和跨尺度測試提供量身定制的解決方案。 納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI Premier,確保納米級力學(xué)和摩擦測試的準(zhǔn)確、可靠、定量。 適應(yīng)系統(tǒng)配置,支持廣泛的復(fù)合和相關(guān)表征技術(shù),以滿足當(dāng)前和未來表征需求。
納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI 980 納米壓痕儀
納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI 980 納米壓痕儀****的**控制和測試帶寬,提供*快的反饋控制和*低噪音水平,實現(xiàn)真正的定量納米機械和納米摩擦特性。 納米力學(xué)測試系統(tǒng)Hysitron TI 980 納米壓痕儀同步多尺度和多技術(shù)測量,支持納米壓痕到微米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損、動態(tài)納米壓痕、原位 SPM 成像和高速性能成像。
TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95
TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95**深度感應(yīng)納米壓痕,實現(xiàn)TEM內(nèi)納米力學(xué)測試的直接觀測。 TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95高性能**控制模塊,提供高達78 kHz反饋速率和38 kHz的數(shù)據(jù)采集速率,以捕獲瞬態(tài)事件(如錯位突變等)。 **三級定位系統(tǒng),包括三軸定位器、3D壓電調(diào)整器和用于靜電驅(qū)動和電容位感應(yīng)的**傳感器。
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