方阻計使用方法
　　如果方阻值比較小，如在幾個歐姆以下，因為存在接觸電阻以及萬用表本身性能等因素，用萬用表測試就會存在讀數(shù)不穩(wěn)和測不準(zhǔn)的情況。這時就需要用專門的用四端測試的低電阻測試儀器，如毫歐計、微歐儀等。測試方法如下：用四根光潔的圓銅棒壓在導(dǎo)電薄膜上，二所示。四根銅棒用A、B、C、D表示，它們上面焊有導(dǎo)線接到毫歐計上，我們使BC之間的距離L等于導(dǎo)電薄膜的寬度W，至于AB、CD之間的距離沒有要求，一般在10--20mm就可以了，接通毫歐計以后，毫歐計顯示的阻值就是材料的方阻值。這種測試方法的優(yōu)點是：（1）用這種方法毫歐計可以測試到幾百毫歐，幾十毫歐，甚至更小的方阻值，（2）由于采用四端測試，銅棒和導(dǎo)電膜之間的接觸電阻，銅棒到儀器的引線電阻，即使比被測電阻大也不會影響測試精度。（3）測試精度高。由于毫歐計等儀器的精度很高，方阻計方阻的測試精度主要由膜寬W和導(dǎo)**BC之間的距離L的機(jī)械精度決定，由于尺寸比較大，這個機(jī)械精度可以做得比較高。方阻計在實際操作時，為了提高測試精度和為了測試長條狀材料，W和L不一定相等，可以使L比W大很多，此時方阻Rs=Rx*W/L,Rx為毫歐計讀數(shù)。

　　影響探頭法測試方阻精度的因素：

　?。?）要求探頭邊緣到材料邊緣的距離大大于探針間距，一般要求10倍以上。

　?。?）要求探針頭之間的距離相等，否則就要產(chǎn)生等比例測試誤差。

　?。?）理論上講探針頭與導(dǎo)電薄膜接觸的點越小越好。但實際應(yīng)用時，因針狀電極容易破壞被測試的導(dǎo)電薄膜材料，所以一般采用圓形探針頭。

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