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光電直讀光譜儀的誤差起源分析
    光電直讀光譜儀被廣泛應用于各個科研領域，衛(wèi)星，化學，鋼鐵制造等行業(yè)，本文對其進行技術(shù)分析，探究其在使用過程中可能出現(xiàn)的誤差和原因分析。 
    但測定試樣中元素含量時，光電直讀 光譜儀 固然本身測量**度很高。所得后果與真實含量凡間紛歧致，存在必然誤差，而且受諸多要素的影響，有的材料本身含量就很低。下面就誤差的品種、起原及若何避免誤差進行剖析。依據(jù)誤差的性質(zhì)及發(fā)生緣由，誤差可分為系統(tǒng)誤差、偶爾誤差、過掉誤差及其他誤差等。 

    一 . 系統(tǒng)誤差的起原 
1 標樣和試樣中的含量和化學構(gòu)成不完全一樣時，能夠惹起基體線和剖析線的強度改動，然后引入誤差。 
2 標樣和試樣的物理功能不完全一樣時，激起的特征譜線會有差異然后發(fā)作系統(tǒng)誤差。 
3 澆注形態(tài)的鋼樣與經(jīng)由退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓形態(tài)的鋼樣金屬組織構(gòu)造不一樣時，測出的數(shù)據(jù)會有所差異。 
4 未知元素譜線的堆疊攪擾。如熔煉進程中參加脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 
5 要消弭系統(tǒng)誤差，必需嚴厲按照標準樣品制備規(guī)則要求。為了反省系統(tǒng)誤差，就需求采用化學剖析方法剖析屢次校正后果。 
     二 . 偶爾誤差的起原與樣品成分不平均有關的誤差。由于光電光譜剖析所耗費的樣品很少，樣品中元素散布的不平均性、組織構(gòu)造的不平均性，招致分歧部位的剖析后果分歧而發(fā)作偶爾誤差。首要緣由如下： 
1 熔煉進程中帶入攙雜物，發(fā)作的偏析等形成樣品元素散布不均。 
2 試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。 
3 磨樣紋路穿插、試樣研磨過熱、試樣磨面放置工夫太長和壓上指紋等要素。 
4 要削減偶爾誤差，就要精心取樣，消弭試樣的不平均性及試樣的鍛造缺陷，也可以反復屢次剖析來降低剖析誤差。 

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