參數(shù):U≦1.5nm K=2
品牌:AUBAT
廠家:奧本精密
證書(shū):中國(guó)計(jì)量院或者304所證書(shū)
訂制:可非標(biāo)定制
本規(guī)范適用于白光干涉輪廓儀的校準(zhǔn)。白光干涉輪廓儀主要用于樣品微納級(jí)表面粗糙度、臺(tái)階高度等表面形貌特征的測(cè)量和分析,在納米科學(xué)、材料科學(xué)等研究領(lǐng)域以及半導(dǎo)體、微電子等行業(yè)中廣泛應(yīng)用。
對(duì)于線間隔小于 1 μm 的微納米線間隔標(biāo)準(zhǔn)樣板,在微納米線間隔標(biāo)準(zhǔn)樣板的有效測(cè)量區(qū)域內(nèi)選取任意 10 個(gè)線間隔的長(zhǎng)度作為數(shù)據(jù)采集區(qū);對(duì)于其它尺寸的微納米線間隔標(biāo)準(zhǔn)樣板,可以在微納米線間隔標(biāo)準(zhǔn)樣板的有效測(cè)量區(qū)域內(nèi)選取 2~10 個(gè)線間隔長(zhǎng)度作為數(shù)據(jù)采集區(qū)。
蘇公網(wǎng)安備 32021402000994號(hào)