WaveSensor & WaveMaster® 波前測試系統(tǒng)

夏克-哈特曼波前傳感器

  為了能夠驗證復(fù)雜的光學設(shè)計在生產(chǎn)中是否成功，必須使用一個有效的檢測技術(shù)。波前測量特別適合此目的，因為它可以在空間分辨的基礎(chǔ)上確定圖像質(zhì)量，包括所有視場角上和整個樣品孔徑。與傳統(tǒng)的MTF測試相比，波前測試是用點擴散函數(shù)進行評價，可覆蓋整個樣品口徑。













產(chǎn)品特點
01 ▏靈敏度高
WaveSensor和WaveMaster®系列波前測試系統(tǒng)的動態(tài)范圍高達2000λ，可在鏡頭設(shè)計中實現(xiàn)高度靈敏的測量。



02 ▏重復(fù)精度高
除了高達λ/20 (RMS)的測量精度外，由于緊湊、堅固和抗振的設(shè)計，還實現(xiàn)了λ/200 (RMS)的高重復(fù)性。



03 ▏實時分析
實時將測量波前數(shù)據(jù)的結(jié)果與樣品鏡片或設(shè)計值的結(jié)果進行比較和評估。



















產(chǎn)品概述




WaveMaster® PRO 2 / PRO 2 Wafer / PRO 2 Plan

鏡頭和晶圓的系列測試

WaveMaster® PRO 2 用于光學鏡頭和光學鏡片的批量測試。

全自動批量測量樣品（晶圓或裝載的托盤）

單個鏡頭測量時間少于3秒，高效的測量提高了檢測效率

用戶自定義的通過/失敗標準，用于應(yīng)用的質(zhì)量控制，與設(shè)計數(shù)據(jù)或主樣本進行比較

 

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