WaveSensor & WaveMaster® 波前測試系統(tǒng)

夏克-哈特曼波前傳感器

  為了能夠驗證復(fù)雜的光學(xué)設(shè)計在生產(chǎn)中是否成功，必須使用一個有效的檢測技術(shù)。波前測量特別適合此目的，因為它可以在空間分辨的基礎(chǔ)上確定圖像質(zhì)量，包括所有視場角上和整個樣品孔徑。與傳統(tǒng)的MTF測試相比，波前測試是用點擴散函數(shù)進行評價，可覆蓋整個樣品口徑。











產(chǎn)品特點
01 ▏靈敏度高
WaveSensor和WaveMaster®系列波前測試系統(tǒng)的動態(tài)范圍高達2000λ，可在鏡頭設(shè)計中實現(xiàn)高度靈敏的測量。



02 ▏重復(fù)精度高
除了高達λ/20 (RMS)的測量精度外，由于緊湊、堅固和抗振的設(shè)計，還實現(xiàn)了λ/200 (RMS)的高重復(fù)性。



03 ▏實時分析
實時將測量波前數(shù)據(jù)的結(jié)果與樣品鏡片或設(shè)計值的結(jié)果進行比較和評估。

















產(chǎn)品概述


WaveMaster® IOL 2 人工晶體波前測量儀

WaveMaster® IOL 2系列人工晶體波前測量儀可實現(xiàn)人工晶狀體的屈光度測試。

適用于常見人工晶狀體類型的通用測量系統(tǒng)：單焦點、柱面、球面和非球面

根據(jù)ISO 11979在空氣中或可選可加熱的模型眼中測量疏水性和親水性鏡片

像差、MTF、EFL和PSF的全自動測量和用戶自定義測量



 WaveMaster® IOL 2系列人工晶體波前測量儀基于波前測量，使用TRIOPTICS GmbH（德國全歐光學(xué)）成熟的夏克-哈特曼波前傳感器WaveSensor®系列測量折射型人工晶狀體單焦點和柱面、球面或非球面等人工晶狀體的關(guān)鍵參數(shù)。因此，它可用于研發(fā)和生產(chǎn)。通過分析在快速測量過程中獲得的波前數(shù)據(jù)，計算出屈光度、像差和光學(xué)傳遞函數(shù)等測量參數(shù)。此外，還支持柱面鏡片的全自動測量（兩個子午線的MTF、標記點識別）?？罩谢蛩袦y量的都安排在一個直觀可用的軟件界面中，引導(dǎo)用戶完成整個過程。

波前測量完成的屈光度分布圖

人工晶狀體評估過程中的**性，因為測量精度是ISO要求的公差的三倍

通過Zernike分析對研發(fā)中的人工晶狀體像差進行個體分析

通過人工晶狀體兩個主要部分的自動MTF測量呈現(xiàn)柱面人工晶狀體的成像質(zhì)量

全自動測量Toric人工晶狀體標記點和標記軸的偏差

實時圖像允許對人工晶狀體的制造質(zhì)量進行視覺分析

根據(jù)所需的分辨率和動態(tài)，可針對特定樣品調(diào)整測量直徑

 

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