企業(yè)信息
第2年
- 入駐時(shí)間： 2012-11-28
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產(chǎn)品分類(lèi)
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
詳情介紹：
WaveSensor & WaveMaster® 波前測(cè)試系統(tǒng)
夏克-哈特曼波前傳感器
為了能夠驗(yàn)證復(fù)雜的光學(xué)設(shè)計(jì)在生產(chǎn)中是否成功，必須使用一個(gè)有效的檢測(cè)技術(shù)。波前測(cè)量特別適合此目的，因?yàn)樗梢栽诳臻g分辨的基礎(chǔ)上確定圖像質(zhì)量，包括所有視場(chǎng)角上和整個(gè)樣品孔徑。與傳統(tǒng)的MTF測(cè)試相比，波前測(cè)試是用點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)進(jìn)行評(píng)價(jià)，可覆蓋整個(gè)樣品口徑。
產(chǎn)品特點(diǎn)
01 ▏靈敏度高
WaveSensor和WaveMaster®系列波前測(cè)試系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)范圍高達(dá)2000λ，可在鏡頭設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)高度靈敏的測(cè)量。
02 ▏重復(fù)精度高
除了高達(dá)λ/20 (RMS)的測(cè)量精度外，由于緊湊、堅(jiān)固和抗振的設(shè)計(jì)，還實(shí)現(xiàn)了λ/200 (RMS)的高重復(fù)性。
03 ▏實(shí)時(shí)分析
實(shí)時(shí)將測(cè)量波前數(shù)據(jù)的結(jié)果與樣品鏡片或設(shè)計(jì)值的結(jié)果進(jìn)行比較和評(píng)估。
產(chǎn)品概述
WaveMaster® Compact 2 研發(fā)型透過(guò)波前測(cè)量
WaveMaster® Compact 2在質(zhì)量控制中提供單透鏡或整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)的波前測(cè)量。
在研發(fā)和質(zhì)量控制中對(duì)單個(gè)鏡片進(jìn)行波前測(cè)量
整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)的透過(guò)波前測(cè)量和分析
WaveMaster® Compact Reflex 研發(fā)型反射波前測(cè)量
WaveMaster® Compact Reflex可以測(cè)量單透鏡的表面形貌和曲率半徑。
在研發(fā)和質(zhì)量控制中對(duì)單個(gè)鏡片進(jìn)行波前測(cè)量
表面形貌的測(cè)量與分析
WaveMaster® Compact 2 Universal 透射和反射波前測(cè)試
WaveMaster® Compact 2 Universal集成了透過(guò)波前測(cè)量和反射表面形貌測(cè)量。
在研發(fā)和質(zhì)量控制中對(duì)單個(gè)鏡片進(jìn)行波前測(cè)量
夏克-哈特曼波前傳感器
為了能夠驗(yàn)證復(fù)雜的光學(xué)設(shè)計(jì)在生產(chǎn)中是否成功，必須使用一個(gè)有效的檢測(cè)技術(shù)。波前測(cè)量特別適合此目的，因?yàn)樗梢栽诳臻g分辨的基礎(chǔ)上確定圖像質(zhì)量，包括所有視場(chǎng)角上和整個(gè)樣品孔徑。與傳統(tǒng)的MTF測(cè)試相比，波前測(cè)試是用點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)進(jìn)行評(píng)價(jià)，可覆蓋整個(gè)樣品口徑。
產(chǎn)品特點(diǎn)
01 ▏靈敏度高
WaveSensor和WaveMaster®系列波前測(cè)試系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)范圍高達(dá)2000λ，可在鏡頭設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)高度靈敏的測(cè)量。
02 ▏重復(fù)精度高
除了高達(dá)λ/20 (RMS)的測(cè)量精度外，由于緊湊、堅(jiān)固和抗振的設(shè)計(jì)，還實(shí)現(xiàn)了λ/200 (RMS)的高重復(fù)性。
03 ▏實(shí)時(shí)分析
實(shí)時(shí)將測(cè)量波前數(shù)據(jù)的結(jié)果與樣品鏡片或設(shè)計(jì)值的結(jié)果進(jìn)行比較和評(píng)估。
產(chǎn)品概述
WaveMaster® Compact 2 研發(fā)型透過(guò)波前測(cè)量
WaveMaster® Compact 2在質(zhì)量控制中提供單透鏡或整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)的波前測(cè)量。
在研發(fā)和質(zhì)量控制中對(duì)單個(gè)鏡片進(jìn)行波前測(cè)量
整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)的透過(guò)波前測(cè)量和分析
WaveMaster® Compact Reflex 研發(fā)型反射波前測(cè)量
WaveMaster® Compact Reflex可以測(cè)量單透鏡的表面形貌和曲率半徑。
在研發(fā)和質(zhì)量控制中對(duì)單個(gè)鏡片進(jìn)行波前測(cè)量
表面形貌的測(cè)量與分析
WaveMaster® Compact 2 Universal 透射和反射波前測(cè)試
WaveMaster® Compact 2 Universal集成了透過(guò)波前測(cè)量和反射表面形貌測(cè)量。
在研發(fā)和質(zhì)量控制中對(duì)單個(gè)鏡片進(jìn)行波前測(cè)量
整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)和反射式表面形貌的測(cè)量和分析
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