WaveSensor & WaveMaster® 波前測試系統(tǒng)

夏克-哈特曼波前傳感器

  為了能夠驗證復雜的光學設計在生產(chǎn)中是否成功，必須使用一個有效的檢測技術。波前測量特別適合此目的，因為它可以在空間分辨的基礎上確定圖像質(zhì)量，包括所有視場角上和整個樣品孔徑。與傳統(tǒng)的MTF測試相比，波前測試是用點擴散函數(shù)進行評價，可覆蓋整個樣品口徑。









產(chǎn)品特點
01 ▏靈敏度高
WaveSensor和WaveMaster®系列波前測試系統(tǒng)的動態(tài)范圍高達2000λ，可在鏡頭設計中實現(xiàn)高度靈敏的測量。



02 ▏重復精度高
除了高達λ/20 (RMS)的測量精度外，由于緊湊、堅固和抗振的設計，還實現(xiàn)了λ/200 (RMS)的高重復性。



03 ▏實時分析
實時將測量波前數(shù)據(jù)的結果與樣品鏡片或設計值的結果進行比較和評估。













產(chǎn)品概述


WaveMaster® Compact 2 研發(fā)型透過波前測量

WaveMaster® Compact 2在質(zhì)量控制中提供單透鏡或整個光學系統(tǒng)的波前測量。

在研發(fā)和質(zhì)量控制中對單個鏡片進行波前測量

整個光學系統(tǒng)的透過波前測量和分析




WaveMaster® Compact Reflex 研發(fā)型反射波前測量

WaveMaster® Compact Reflex可以測量單透鏡的表面形貌和曲率半徑。

在研發(fā)和質(zhì)量控制中對單個鏡片進行波前測量

表面形貌的測量與分析




WaveMaster® Compact 2 Universal 透射和反射波前測試

WaveMaster® Compact 2 Universal集成了透過波前測量和反射表面形貌測量。

在研發(fā)和質(zhì)量控制中對單個鏡片進行波前測量

整個光學系統(tǒng)和反射式表面形貌的測量和分析

 

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