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第2年
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
詳情介紹：
產(chǎn)品介紹-生產(chǎn)用干涉儀
μPhase® 面型測(cè)試系統(tǒng)
用于測(cè)量表面和波前變形的干涉儀
μPhase®干涉儀可以對(duì)由玻璃、塑料、金屬、陶瓷或類似材料制成的反射和透射組件的表面和波前變形進(jìn)行快速、高精度測(cè)量?？陀^可靠的結(jié)果滿足高質(zhì)量管理要求。非接觸式測(cè)量過程有助于防止損壞樣品。
對(duì)平面、球面、圓柱、復(fù)曲面和非球面部件的整個(gè)表面和波前變形進(jìn)行高精度測(cè)量。
μPhase®可普遍用于反射率從0.2%到100%的所有表面，由玻璃、塑料、金屬和陶瓷等材料制成。
客觀的數(shù)字化測(cè)量可避免操作員的影響。同樣，堅(jiān)固的防塵外殼確保了高可靠性。
μPhase®干涉儀是非常緊湊、小巧、輕便的數(shù)字化設(shè)備，可以在很多工作環(huán)境中使用。在μShape軟件的支持下，可以進(jìn)行廣泛的測(cè)量分析。
μPhase®傳感器是TRIOPTICS干涉測(cè)量的基礎(chǔ)。該傳感器是模塊化的，可以配置各種測(cè)量直徑，并代表特定的測(cè)量任務(wù)。此外，可以以低成本提供定制的解決方案。
μPhase® PLANO DOWN 結(jié)構(gòu)緊湊
μPhase® PLANO DOWN具有緊湊的設(shè)計(jì)，適用于在研發(fā)和生產(chǎn)中測(cè)量平面部件。
測(cè)量直徑范圍*大為150mm
將樣品放在花崗巖板上并從頂部開始測(cè)量
由于該裝置具有堅(jiān)固的花崗巖底座，通常不需要隔振
設(shè)計(jì)緊湊，占地面積小
高度可調(diào)節(jié)的立柱易于操作
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
μPhase® PLANO DOWN具有緊湊的設(shè)計(jì)，適用于在研發(fā)和生產(chǎn)中測(cè)量平面部件。
測(cè)量直徑范圍*大為150mm
將樣品放在花崗巖板上并從頂部開始測(cè)量
由于該裝置具有堅(jiān)固的花崗巖底座，通常不需要隔振
設(shè)計(jì)緊湊，占地面積小
高度可調(diào)節(jié)的立柱易于操作
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
μPhase® PLANO UP 生產(chǎn)中的平面透鏡
對(duì)于生產(chǎn)光學(xué)平板的經(jīng)濟(jì)高效的質(zhì)量控制，μPhase® PLANO UP是很好的選擇。
測(cè)量直徑范圍*大為100mm
緊湊型設(shè)計(jì)，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點(diǎn)支撐上，并從下方測(cè)量
抗震
連續(xù)測(cè)量不需要中間重新校準(zhǔn)
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
對(duì)于生產(chǎn)光學(xué)平板的經(jīng)濟(jì)高效的質(zhì)量控制，μPhase® PLANO UP是很好的選擇。
測(cè)量直徑范圍*大為100mm
緊湊型設(shè)計(jì)，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點(diǎn)支撐上，并從下方測(cè)量
抗震
連續(xù)測(cè)量不需要中間重新校準(zhǔn)
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
μPhase® SPHERO UP 生產(chǎn)中的球體
使用μPhase® SPHERO UP在生產(chǎn)中可以快速且經(jīng)濟(jì)地控制球面。
測(cè)量直徑范圍*大為50mm
緊湊型設(shè)計(jì)，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點(diǎn)支撐上，并從下方開始測(cè)量
抗震
連續(xù)測(cè)量中間不需要重新校準(zhǔn)
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
使用μPhase® SPHERO UP在生產(chǎn)中可以快速且經(jīng)濟(jì)地控制球面。
測(cè)量直徑范圍*大為50mm
緊湊型設(shè)計(jì)，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點(diǎn)支撐上，并從下方開始測(cè)量
抗震
連續(xù)測(cè)量中間不需要重新校準(zhǔn)
μPhase® 面型測(cè)試系統(tǒng)
用于測(cè)量表面和波前變形的干涉儀
μPhase®干涉儀可以對(duì)由玻璃、塑料、金屬、陶瓷或類似材料制成的反射和透射組件的表面和波前變形進(jìn)行快速、高精度測(cè)量?？陀^可靠的結(jié)果滿足高質(zhì)量管理要求。非接觸式測(cè)量過程有助于防止損壞樣品。
對(duì)平面、球面、圓柱、復(fù)曲面和非球面部件的整個(gè)表面和波前變形進(jìn)行高精度測(cè)量。
μPhase®可普遍用于反射率從0.2%到100%的所有表面，由玻璃、塑料、金屬和陶瓷等材料制成。
客觀的數(shù)字化測(cè)量可避免操作員的影響。同樣，堅(jiān)固的防塵外殼確保了高可靠性。
μPhase®干涉儀是非常緊湊、小巧、輕便的數(shù)字化設(shè)備，可以在很多工作環(huán)境中使用。在μShape軟件的支持下，可以進(jìn)行廣泛的測(cè)量分析。
μPhase®傳感器是TRIOPTICS干涉測(cè)量的基礎(chǔ)。該傳感器是模塊化的，可以配置各種測(cè)量直徑，并代表特定的測(cè)量任務(wù)。此外，可以以低成本提供定制的解決方案。
μPhase® PLANO DOWN 結(jié)構(gòu)緊湊
μPhase® PLANO DOWN具有緊湊的設(shè)計(jì)，適用于在研發(fā)和生產(chǎn)中測(cè)量平面部件。
測(cè)量直徑范圍*大為150mm
將樣品放在花崗巖板上并從頂部開始測(cè)量
由于該裝置具有堅(jiān)固的花崗巖底座，通常不需要隔振
設(shè)計(jì)緊湊，占地面積小
高度可調(diào)節(jié)的立柱易于操作
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
μPhase® PLANO DOWN具有緊湊的設(shè)計(jì)，適用于在研發(fā)和生產(chǎn)中測(cè)量平面部件。
測(cè)量直徑范圍*大為150mm
將樣品放在花崗巖板上并從頂部開始測(cè)量
由于該裝置具有堅(jiān)固的花崗巖底座，通常不需要隔振
設(shè)計(jì)緊湊，占地面積小
高度可調(diào)節(jié)的立柱易于操作
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
μPhase® PLANO UP 生產(chǎn)中的平面透鏡
對(duì)于生產(chǎn)光學(xué)平板的經(jīng)濟(jì)高效的質(zhì)量控制，μPhase® PLANO UP是很好的選擇。
測(cè)量直徑范圍*大為100mm
緊湊型設(shè)計(jì)，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點(diǎn)支撐上，并從下方測(cè)量
抗震
連續(xù)測(cè)量不需要中間重新校準(zhǔn)
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
對(duì)于生產(chǎn)光學(xué)平板的經(jīng)濟(jì)高效的質(zhì)量控制，μPhase® PLANO UP是很好的選擇。
測(cè)量直徑范圍*大為100mm
緊湊型設(shè)計(jì)，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點(diǎn)支撐上，并從下方測(cè)量
抗震
連續(xù)測(cè)量不需要中間重新校準(zhǔn)
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
μPhase® SPHERO UP 生產(chǎn)中的球體
使用μPhase® SPHERO UP在生產(chǎn)中可以快速且經(jīng)濟(jì)地控制球面。
測(cè)量直徑范圍*大為50mm
緊湊型設(shè)計(jì)，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點(diǎn)支撐上，并從下方開始測(cè)量
抗震
連續(xù)測(cè)量中間不需要重新校準(zhǔn)
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
使用μPhase® SPHERO UP在生產(chǎn)中可以快速且經(jīng)濟(jì)地控制球面。
測(cè)量直徑范圍*大為50mm
緊湊型設(shè)計(jì)，適合小空間，可放置在生產(chǎn)機(jī)器旁邊
樣品位于裝置頂部的環(huán)形卡盤或三點(diǎn)支撐上，并從下方開始測(cè)量
抗震
連續(xù)測(cè)量中間不需要重新校準(zhǔn)
由于其直觀且易于操作，因此也可由未經(jīng)培訓(xùn)的人員使用
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