產(chǎn)品介紹-干涉儀測量頭--北京全歐光學
μPhase® 面型測試系統(tǒng)
用于測量表面和波前變形的干涉儀
 μPhase®干涉儀可以對由玻璃、塑料、金屬、陶瓷或類似材料制成的反射和透射組件的表面和波前變形進行快速、高精度測量。客觀可靠的結(jié)果滿足高質(zhì)量管理要求。非接觸式測量過程有助于防止損壞樣品。
對平面、球面、圓柱、復(fù)曲面和非球面部件的整個表面和波前變形進行高精度測量。
μPhase®可普遍用于反射率從0.2%到100%的所有表面，由玻璃、塑料、金屬和陶瓷等材料制成。
客觀的數(shù)字化測量可避免操作員的影響。同樣，堅固的防塵外殼確保了高可靠性。
 μPhase®干涉儀是非常緊湊、小巧、輕便的數(shù)字化設(shè)備，可以在很多工作環(huán)境中使用。在μShape軟件的支持下，可以進行廣泛的測量分析。
 μPhase®傳感器是TRIOPTICS干涉測量的基礎(chǔ)。該傳感器是模塊化的，可以配置各種測量直徑，并代表特定的測量任務(wù)。此外，可以以低成本提供定制的解決方案。
μPhase® 3.1/3.2/3.3. 高度靈活
泰曼格林干涉儀傳感器μPhase®具有相同的設(shè)計，適用于不同的分辨率，并且可以集成到您的設(shè)置中。

 泰曼格林干涉儀傳感器μPhase®具有相同的設(shè)計，適用于不同的分辨率，并且可以集成到您的設(shè)置中。
可以進行對焦以及調(diào)整表面反射率（**μPhase® 3.3）

可以集成到制造機器和生產(chǎn)線中

 

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