吉時(shí)利數(shù)字源表系列專用于要求緊密結(jié)合源和測(cè)量的測(cè)試應(yīng)用。全部數(shù)字源表型號(hào)都提供精密電壓源和電流源以及測(cè)量功能。每款數(shù)字源表既是高度穩(wěn)定的直流電源也是真儀器級(jí)的5位半萬用表。此電源的特性包括低噪聲、精密和回讀。此萬用表的功能包括可重復(fù)性高和低噪聲。*終形成了緊湊、單通道、直流參數(shù)測(cè)試儀。在工作時(shí)，這些儀器能用作電壓源、電流源、電壓表、電流表和歐姆表。通信、半導(dǎo)體、計(jì)算機(jī)、汽車和醫(yī)療行業(yè)的組件和模塊制造商會(huì)發(fā)現(xiàn)吉時(shí)利數(shù)字源表是適于特性分析和生產(chǎn)測(cè)試等廣泛應(yīng)用的重要源表。

集5種儀器功能于一體（IV源、IVR測(cè)量）
源測(cè)量儀器的精密耦合特點(diǎn)相對(duì)分立儀器具有許多優(yōu)點(diǎn)。例如，它具有更短的測(cè)試時(shí)間，通過減少GPIB的流量并簡化了遠(yuǎn)程編程接口。它還保護(hù)被測(cè)設(shè)備在偶爾過載、熱失控等情況下不被損壞。電流源和電壓源都可設(shè)置回讀使器件測(cè)量完整性*大化。如果回讀達(dá)到可編程容限的極限，那么該源就被鉗位在此極限，從而提供錯(cuò)誤保護(hù)。

I-V特性分析
所有數(shù)字源表均提供4象限工作。工作在第1和第3象限時(shí)，作為電源向負(fù)載輸出功率。工作在第2和第4象限時(shí)，作為阱（負(fù)載）吸收能量。在源或阱工作期間都能測(cè)量電壓、電流和電阻。

標(biāo)準(zhǔn)掃描和定制掃描
掃描方案采用自動(dòng)化鉤子（hook）極大加快了測(cè)試。三種基本掃描波形可設(shè)置為單事件或連
續(xù)工作，因而非常適于I/V、I/R、V/L和V/R特性分析。
-線性階梯掃描：從起始電平到終止電平使用相
等的線性步長
-對(duì)數(shù)階梯掃描：按照每十個(gè)單位指定的步數(shù)按
對(duì)數(shù)量比例進(jìn)行掃描
-定制掃描：通過指定測(cè)量點(diǎn)的數(shù)量和每個(gè)點(diǎn)的
輸出電平，支持設(shè)立專用掃描
-達(dá)1700讀數(shù)/秒（4位半分辨率），至GPIB總線
-5000個(gè)5位半分辨率的讀數(shù)可以存儲(chǔ)在非易失緩沖存儲(chǔ)器中

內(nèi)建測(cè)試定序儀（源存儲(chǔ)器列表）
源存儲(chǔ)器列表提供了更快捷、更方便的測(cè)試，您能設(shè)置和執(zhí)行多達(dá)100種不同的測(cè)試并能實(shí)現(xiàn)無PC干預(yù)的運(yùn)行。
-存儲(chǔ)多達(dá)100種儀器配置，每種均包含源設(shè)置、測(cè)量設(shè)置、通過/失效標(biāo)準(zhǔn)等。
-通過/失效極限測(cè)試速度達(dá)500μs/測(cè)試點(diǎn)
-板上比較器消除了當(dāng)發(fā)送數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析時(shí)產(chǎn)生的延遲
-內(nèi)建、用戶定義的數(shù)學(xué)函數(shù)用于計(jì)算推導(dǎo)參數(shù)

典型應(yīng)用
設(shè)備：
   分立半導(dǎo)體器件
   無源器件
   瞬變抑制器件
   IC、RFIC、MMIC
   激光二極管、激光二極管模塊、LED、光檢測(cè)器
   電路保護(hù)器件：TVS、MOV、保險(xiǎn)絲等
   氣袋
   連接器、開關(guān)、繼電器
測(cè)試：
  漏電
  低電壓/電阻
  LIV
  IDDQ
  I-V特性分析
  隔離和印制線電阻
  溫度系數(shù)
  正向電壓、反向擊穿、漏電流
  直流參數(shù)測(cè)試
  直流電源
  HIPOT
  絕緣耐壓

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