熒光示蹤儀用途
　　1.熒光示蹤儀熒光激發(fā)光譜和熒光發(fā)射光譜

　　2.同步熒光（波長和能量）掃描光譜

　　3.3D（Ex Em Intensity)

　　4.Time Base和CWA(固定波長單點測量）

　　5.熒光壽命測量，包括壽命分辨及時間分辨

　　6.計算機采集光譜數(shù)據(jù)和處理數(shù)據(jù)（Datamax和Gram32)

　　熒光示蹤儀是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的*大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.

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