電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于測試電子產(chǎn)品，電子，電器，電子產(chǎn)品，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，手機(jī)，電腦，太陽能組件，光伏組件，光纖，光電，LED，LCD，PCB，FPC，手機(jī)連接器，電腦連接器，電源連接器，信號(hào)連接器，PCB連接器，FPC連接器，電感器、濾波器、變壓器，集成電路,計(jì)算機(jī)，系統(tǒng)集成微電子，電機(jī)，**，航天，航空，汽車燈產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在*短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱溫度沖擊條件包括：高溫到低溫，低溫到高溫，高溫到常溫，低溫到常溫，常溫到高溫，常溫到低溫
電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用自主研發(fā)KW-900溫度沖擊控制器：
KW-900溫度沖擊箱控制器優(yōu)勢:
1、高分辨真彩觸摸屏接口（分辯率800*480）7寸寬屏，10寸寬屏（選項(xiàng)）
2、大容量可存127個(gè)程式組，超長運(yùn)行每段530小時(shí)
3、程式循環(huán)可32000次,程式連接循環(huán)32000次
4、支持1G-8G U盤下載備份歷史數(shù)據(jù)，歷史曲線,支持即插即拔
5、內(nèi)置超大存儲(chǔ),可存儲(chǔ)90天歷數(shù)據(jù)，歷史曲線(當(dāng)采樣是1min時(shí))
6、支持自動(dòng)高溫儲(chǔ)能溫度補(bǔ)償，自動(dòng)低溫儲(chǔ)能溫度補(bǔ)償
7、支持單溫度運(yùn)行.
8、觸控式交互式參數(shù)輸入方式
9、支持英文，中文
10、提供內(nèi)置SMPS的I/O RELAY BOARD-接線簡化和節(jié)省成本
11、同時(shí)支持干T、K、PT100等多種傳感器
12、基于PC的方便監(jiān)控
13、方便設(shè)定多達(dá)24種的輸出方式
14、內(nèi)置基于世界*先進(jìn)的PID算法的自動(dòng)調(diào)諧功能
15、提供強(qiáng)有力的通訊環(huán)境和支持254臺(tái)多分支結(jié)構(gòu)
16、**的Fuzzy功能和ARW啟動(dòng)-抑制超程
17、程序類型有高溫→低溫, 低溫→高溫, 常溫→高溫，常溫→低溫, 常溫→低溫，常溫→高溫
18、支持1G-8G U盤下載歷史數(shù)據(jù)、歷史曲線，可即插即拔
19、備份歷史數(shù)據(jù)、歷史曲線，含溫度PV SV TIME。
電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用原裝進(jìn)口德國比澤爾壓縮機(jī)復(fù)疊式制冷：
電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法：
GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2002溫度變化
QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估
電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱型號(hào)規(guī)格選型表：
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