CHY-CA太陽能硅片厚度檢測適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度**測量。

應(yīng)用范圍

薄膜   薄片   復(fù)合膜   隔膜    紙張    紙板    箔片 

 特 征

1. 機械接觸式測量方法，不受測量材料限制
2. 進口上等傳感器，測量分辨率高達0.1微米
3. 傳動原件，保證了實驗結(jié)果的穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性
4. 測量頭對薄膜（紙張）的接觸面積，接觸壓力嚴格遵循相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
5. 特殊結(jié)構(gòu)設(shè)計、保證上下測量平面的平行
6. 靈活、方便的配置方式更能滿足范圍更寬的測量，非標(biāo)實驗易于實現(xiàn)
7. 試驗數(shù)據(jù)大屏幕液晶顯示、操作按鍵人性化設(shè)計
8. 可設(shè)置手動、自動兩種試驗?zāi)Ｊ健?/span>
9. 測量結(jié)果自動統(tǒng)計、打印具有電腦通信接口
10. 兼容ISO  ASTM等多種測量標(biāo)準(zhǔn)

 結(jié)構(gòu)組成

本試驗儀主要有控制系統(tǒng)，測量系統(tǒng)、打印輸出系統(tǒng)第三部分組成，測量系統(tǒng)對薄膜進行測量，并輸出相應(yīng)電信號，控制系統(tǒng)用以參數(shù)的設(shè)定、修改、傳輸信號的處理、測量結(jié)果的顯示等：打印輸出系統(tǒng)的功能是統(tǒng)計結(jié)果的輸出，打印試驗結(jié)果。

CHY-01薄膜厚度測試儀 功能原理

本試驗儀采用目前世界測量領(lǐng)域精準(zhǔn)的技術(shù)成果，確保測量結(jié)果的高**性，多次測量結(jié)果的高度一致性，且操作調(diào)試極其方便，幾近與自動化操作，*大限度的減少了人為因素對測量結(jié)果帶來的影響，對于多次測量，可對測量結(jié)果進行統(tǒng)計、分析、打印輸出；接觸面積、測量壓力、移動速度等嚴格遵循相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。

技術(shù)指標(biāo)

測量范圍：0～2mm（常規(guī)）

          0～6mm；12mm（可選）

分 辨 率：0.1μm

測量速度：10次/min（可調(diào)）

測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）

接觸面積：50mm²（薄膜）；200mm²（紙張）

          注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制

電    源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：461 mm (L)×334 mm (B)×357mm (H)

凈    重：33kg

標(biāo)    準(zhǔn)

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

操作步驟

上電——設(shè)置測量參數(shù)——進入測試界面——放置待測薄膜——啟動測量——測量結(jié)束——打印輸出測量結(jié)果——試驗結(jié)束

注：本測量儀有記憶功能，若下次測量參數(shù)與上次相同，可直接進入測量，無須再進行設(shè)置。

配    置

標(biāo)準(zhǔn)配置：主機、微型打印機、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件

選 購 件：專業(yè)軟件、通信電纜、配重砝碼盤、配重砝碼

產(chǎn)品留言

標(biāo)題

聯(lián)系人

聯(lián)系電話

內(nèi)容

驗證碼

點擊換一張

注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發(fā)送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯(lián)系方式!