深圳市灣邊貿(mào)易供應(yīng)美國Sinton公司BCT-400/BLS-I少子壽命測(cè)量儀
深圳市灣邊貿(mào)易有限公司優(yōu)勢(shì)供應(yīng)Sinton 少子壽命測(cè)量儀，BCT-400測(cè)試硅錠，BLS-I測(cè)試硅棒，Sinton X-閃光燈頭，Sinton X5D閃光燈頭，Sinton X閃光燈座。
Sinton BCT-400少子壽命測(cè)量儀
BCT-400測(cè)量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測(cè)量單晶和多晶硅（錠或塊）的少子壽命. 是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測(cè)量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設(shè)備，具有瞬態(tài)和準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)兩種測(cè)量模式。該設(shè)備可探測(cè)3mm 深度范圍少子壽命，并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值，可實(shí)現(xiàn)低電阻率硅單晶少子壽命測(cè)量，并能通過軟件端光強(qiáng)偏置實(shí)現(xiàn)單晶缺陷密度計(jì)算。
Sinton BLS-I少子壽命測(cè)量儀
BLS-I測(cè)量系統(tǒng)用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測(cè)量，除需要有一個(gè)測(cè)量平面外，對(duì)樣塊 體形無嚴(yán)格要求，可測(cè)塊狀和片狀單晶壽命。壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體 內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測(cè)項(xiàng)目。
BLS-I/BCT-400產(chǎn)品規(guī)格 壽命值測(cè)量范圍：100 ns至> 10 ms 電阻率測(cè)量范圍：0.5-300 Ohm-cm 測(cè)量（分析）模式 環(huán)境工作溫度：20°C-25°C 電源：BLS-I/BCT-400: 40 W 計(jì)算機(jī)與顯示器:200w 光源:60w 尺寸（無手柄） BLS-I: 7.9 cm W x 16.3 cm D x 12.7 cm H BCT-400: 6.1 cm W x 15.0 cm D x 12.7 cm H 通用電壓：100-240 VAC 50/60 Hz
源自：深圳市灣邊貿(mào)易有限公司，更多詳情歡迎來咨詢！