回路電阻測(cè)試儀即回路電阻測(cè)試儀，英文名稱(chēng)：Loop Resistance Tester。對(duì)此按新規(guī)程要求設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)出新一代智能回路電阻測(cè)試儀產(chǎn)品，回路電阻測(cè)試儀適用于測(cè)試高低壓開(kāi)關(guān)的主觸頭接觸電阻值，高低壓電纜線(xiàn)路的直流電阻值等?；芈冯娮铚y(cè)試儀是根據(jù)中華人民共和國(guó)*電力執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)DL/T845.4-2004，采用高頻開(kāi)關(guān)電源技術(shù)和數(shù)字電路技術(shù)相結(jié)合設(shè)計(jì)而成。適用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備回路電阻的測(cè)量。其測(cè)試電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)推薦的直流100A?？稍陔娏?00A的情況下直接測(cè)得回路電阻，并用數(shù)字顯示出來(lái)。
目前，電力系統(tǒng)中普遍采用常規(guī)的雙臂直流電橋測(cè)量變壓器線(xiàn)圈的直流電阻、高壓斷路器的接觸電阻，而這類(lèi)電橋的測(cè)試電流僅為mA級(jí)，難以發(fā)現(xiàn)變壓器線(xiàn)圈導(dǎo)電回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷。在測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路的接觸電阻時(shí)，由于受到油膜和動(dòng)靜觸點(diǎn)間氧化層的影響，測(cè)量的電阻值偏大若干倍，掩蓋了真實(shí)的接觸電阻值。根據(jù)《DL / T 845.4一2004中華人民共和國(guó)電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)電阻測(cè)量裝置通用技術(shù)條件 第4部分:回路電阻測(cè)試儀》對(duì)斷路器、隔離開(kāi)關(guān)接觸電阻的測(cè)量電流作出不小于100A的規(guī)定，以確保測(cè)量的準(zhǔn)確度。
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