Olympus開(kāi)發(fā)的用于雙晶線(xiàn)性陣列探頭  腐蝕檢測(cè)的新型雙晶線(xiàn)性陣列探頭，與常規(guī)超聲雙晶探頭相比，具有更多的優(yōu)勢(shì)特性。這種相控陣解決方案，通過(guò)諸如更大的聲束覆蓋范圍、更快的掃查速度，及具有更高數(shù)據(jù)點(diǎn)密度的C掃描成像等特性，提高了檢測(cè)的生產(chǎn)力。與標(biāo)準(zhǔn)的相控陣脈沖回波相比，這款新探頭所使用的一發(fā)一收技術(shù)在腐蝕測(cè)量應(yīng)用中可提供更好的近表面分辨率及更強(qiáng)大的點(diǎn)蝕探測(cè)能力，從而可提高關(guān)鍵性壁厚減薄的探出率。

雙晶線(xiàn)性陣列探頭  腐蝕檢測(cè)探頭特性

• 近表面1毫米的探測(cè)性能。
• 32毫米的聲束覆蓋寬度。
• 快速調(diào)整系統(tǒng)，可適用于直徑從4英寸到平面材料的檢測(cè)。
• 硬質(zhì)合金防磨板，可保護(hù)楔塊。
• 輕型鋁質(zhì)外殼。
• 編碼數(shù)據(jù)采集即需即用。
• USB秘鑰中的OmniScan配置文件（MX、MX2和SX）。

OmniScan軟件特性

• 側(cè)視圖、端視圖和頂視圖成像（B掃描、S掃描和C掃描）。
• 同時(shí)表現(xiàn)波幅和渡越時(shí)間的C掃描成像，此外還帶有厚度讀數(shù)。
• 完整的高分辨率A掃描存儲(chǔ)。
• 兩個(gè)可配置的探測(cè)閘門(mén)。
• 在OmniScan或一個(gè)使用OmniPC的計(jì)算機(jī)中進(jìn)行離線(xiàn)分析的性能。

雙晶線(xiàn)性陣列探頭  腐蝕檢測(cè)全新的解決方案，相同的OmniScan

雙晶線(xiàn)性陣列探頭  腐蝕檢測(cè)的出現(xiàn)為現(xiàn)有的奧林巴斯HydroFORM和RexoFORM腐蝕解決方案增添了一種新型、低成本的入門(mén)級(jí)檢測(cè)性能，特別是在與OmniScan SX儀器一起使用時(shí)。在將這種探頭與一款OmniScan相控陣儀器（PR或非PR）一起使用時(shí)，設(shè)置與操作步驟非常簡(jiǎn)單：導(dǎo)入設(shè)置文件，校準(zhǔn)儀器，然后進(jìn)行檢測(cè)并記錄數(shù)據(jù)。

在探頭上安裝一個(gè)編碼器即可為用戶(hù)提供在儀器上生成C掃描的功能。其**性探頭穩(wěn)定系統(tǒng)可使探頭在直徑小到4英寸的管道表面上進(jìn)行平滑的數(shù)據(jù)采集。通常，碳鋼中的檢測(cè)深度范圍為1毫米到80毫米。

雙晶線(xiàn)性陣列探頭  腐蝕檢測(cè)雙晶陣列一發(fā)一收技術(shù)

與雙晶UT探頭一樣，雙晶線(xiàn)性陣列探頭包含一組發(fā)射晶片和一組接收晶片，這兩組晶片被分別安裝在以一定角度斷開(kāi)的延遲塊的兩部分上。這種配置可以生成在被測(cè)工件表面以下聚焦的聲束，從而可極大地降低表面反射的波幅。這種配置還可以提高近表面分辨率，得到對(duì)諸如點(diǎn)蝕、蠕變損傷、和HIC（氫致裂紋）等關(guān)鍵性缺陷的更高的探出率。

一發(fā)一收

脈沖回波

與相控陣脈沖回波相比，一發(fā)一收技術(shù)僅生成極小的界面回波，提供更好的近表面分辨率。

碳鋼管道上腐蝕缺陷的B掃描圖像