A.1校準(zhǔn)試塊

軸瓦合金試塊，簡稱ZW-HJ試塊，用于軸瓦超聲波檢測儀器、探頭校準(zhǔn)試塊，其形狀和尺寸見圖A.1所示。

圖A.1 ZW-HJ試塊（單位：mm）

A.2技術(shù)要求：

1)試塊材料為ZChSnSb11-6，內(nèi)部應(yīng)無缺陷；

2)試塊外形垂直度、平行度±0.05mm，孔徑±0.05mm；探測面光潔度為1.6μm，其余光潔度3.2μm；試塊尺寸及缺陷位置尺寸公差±0.1mm，

3)試塊應(yīng)經(jīng)計量部門檢定合格。

附　錄　B（規(guī)范性附錄）
軸瓦超聲波檢測參考試塊

B.1參考試塊

軸瓦超聲波檢測Ⅰ參考試塊簡稱ZW-Ⅰ，軸瓦超聲波檢測Ⅱ參考試塊簡稱ZW-Ⅱ。其形狀和尺寸見圖B.1、圖B.2所示。

圖B.2  ZW-Ⅱ參考試塊（單位：mm）

B.2技術(shù)要求：

1)試塊材料

襯背材料：35鋼

合金材料：ZChSnSb11-6

襯背厚度：當(dāng)R=300mm時，T=50mm，當(dāng)R=400mm時，T=80mm。

2)試塊Ⅰ側(cè)為結(jié)合良好區(qū)域，Ⅱ側(cè)為結(jié)合**區(qū)域。

3)外形垂直度、平行度±0.05mm，探測面光潔度為1.6μm，其余光潔度3.2μm；試塊各尺寸公差±0.1mm，

4)試塊應(yīng)經(jīng)計量部門檢定合格。