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表面粗糙度儀測量方法介紹
表面粗糙度儀測量方法介紹

下面小編來說一下，表面粗糙度儀測量方法介紹

干涉法：利用光波干涉原理將被測表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來，表面粗糙度儀并利用放大倍數(shù)高的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進行測量，以得出被測表面粗糙度。應(yīng)用此法的表面粗糙度測量工具稱為干涉顯微鏡。這種方法適用于測量Rz和Ry為0.025～0.8微米的表面粗糙度。

光切法：光線通過狹縫后形成的光帶投射到被測表面上，以它與被測表面的交線所形成的輪廓曲線來測量表面粗糙度。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡、狹縫、物鏡1后，以45°的傾斜角將狹縫投影到被測表面，形成被測表面的截面輪廓圖形，然后通過物鏡2將此圖形放大后投射到分劃板上。利用測微目鏡和讀數(shù)鼓輪，先讀出h值，計算后得到H值。應(yīng)用此法的表面粗糙度測量工具稱為光切顯微鏡。它適用于測量RZ和Ry為0.8～100微米的表面粗糙度，需要人工取點，測量效率低。

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