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蘇州邦鑫電子技術(shù)有限公司
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X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT230
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X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT230
產(chǎn)品資料
X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT230
如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱:
X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT230
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品展商:
其它品牌
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簡單介紹
FT230臺式XRF分析儀的設(shè)計大大減少了進行測量的時間。日立工程師認為樣品的設(shè)置和測量配方的選擇往往會耗費大量的時間,因此推出了一個具突破性的分析儀,其可以有效地 "設(shè)置 "自己,使得在過程中可以分析更多的零件。 自動化和**軟件是FT230分析儀的特點。智能識別模塊,如Find My Part?(查找我的樣品),意味著操作者只需裝載樣品及確認零件,F(xiàn)T230就會處理其余的事情。它將在您的部件上找到正確的測量位置,即使是在大型基材上,選擇正確的分析程序并將結(jié)果發(fā)送到您的質(zhì)量系統(tǒng)。減少了時間和人為的錯誤,使得你可以在更短的時間內(nèi)完成更多的分析,能夠在繁忙的生產(chǎn)環(huán)境中實現(xiàn)100%的檢查。
產(chǎn)品描述
FT230的每一個部分都是為了準確測試,并大幅減少分析時間而設(shè)計的。
自動聚焦減少樣品裝載時間
Find My Part? 自動進行智能識別以設(shè)置完整的測量程序
屏幕大部分區(qū)域用來顯示樣品視圖,提供了**的可視度
自檢診斷程序確保了儀器的狀況和穩(wěn)定性
與其他軟件的無縫集成使其能夠輕松導(dǎo)出數(shù)據(jù)
采用了新的使用者界面,非專業(yè)人員也能直觀、方便地使用。
功能強大,可同時測量四層鍍層
經(jīng)久耐用,在充滿考驗的生產(chǎn)或?qū)嶒炇噎h(huán)境中使用壽命長
符合ASTM B568和DIN ISO 3497標準
幫助您滿足ENIG(IPC-4552B)、ENEPIG(IPC-4556)、浸沒錫(IPC-4554)和浸沒銀(IPC-4553A)的規(guī)格要求
分析
詳細內(nèi)容
X射線管
鎢(W)靶微焦點X射線管,自上向下照射式, *大50 kV,1000μA,50 W
檢測器
高分辨率大面積50 mm2 SDD
初級濾波器
5個初級濾波器(2種鋁膜、鈦膜、鉬膜、鎳膜)+ 1個無濾波器
準直器
4個準直器,有長圓形和圓形兩種可供選擇,尺寸范圍為從0.01 x 0.25 mm到1 mm(0.5 x 10 mil到40 mil)
元素范圍
鋁(13)-鈾(92)
層數(shù)
*多5層 (4層加基底)
可選元素
自由選擇
大氣補償
自動溫度和壓力補償
環(huán)境
空氣
規(guī)范
能量色散X射線熒光測量鍍層 符合ASTM B568、DIN ISO 3497
樣品定位
詳細內(nèi)容
*大樣品尺寸
500 x 400 x 150 mm
樣品臺行程
250 x 200 mm
樣品臺尺寸
900 x 600 mm-電動樣品臺,開槽樣品室
270 x 210 mm-電動樣品臺,密閉樣品室
540 x 540 mm- 固定樣品臺
樣品臺速度(電動配置)
80mm/s
樣品臺精度(電動配置)
≤ 5 μm
*大樣品重量
10 kg - 固定樣品臺
5 kg - 電動樣品臺
z軸行程
205 mm
工作距離
5 mm- 標稱,聚焦激光器
5至67 mm-自動對焦/自動接近(可選)
樣品臺-Z軸控制
軟件控制和帶啟動按鈕的三向操縱桿(可選)
聚焦
7.1 x 5.3 mm
視野(廣角攝像機,可選)
250 x 200mm
定位輔助
雷射定位、預(yù)定位激光(電動樣品臺配置)
軟件
詳細內(nèi)容
用戶接口
FT Connect
標準功能
鍍層分析(FP和經(jīng)驗分析)、體相材料成分分析(FP和經(jīng)驗分析)、多點程序設(shè)計、定性模式、數(shù)據(jù)歷史、診斷、ExTOPE云鏈接密碼保護、多級訪問控制軟件
智能識別功能
“查找我的零件”(機器視覺、二維碼/條形碼掃描、文本查找)、“查找我的模式”(機器視覺)
語言
簡體中文、繁體中文、捷克語、英語、法語、德語、意大利語、日語、韓語、葡萄牙語、俄語、西班牙語
PC規(guī)格
Windows 10 64位 PC
尺寸和工作環(huán)境
詳細內(nèi)容
尺寸
600 x 815 x 745 mm- 密閉樣品室
900 x 931 x 745 mm- 開槽樣品室,電動樣品臺
重量(不含PC)
140kg
溫度范圍
10 - 40 °C
濕度范圍
*大相對濕度:90%(無冷凝)
供電要求
100-240 V±10% ; 47-63 Hz ; 1.5 A
信號塔(可選)
三層紅色/黃色/綠色指示燈(X射線打開/快門打開/儀器通電)
Au/NiP/Cu的典型性能
Au
NiP
測試范圍
0.051 - 0.09 μm
(2.00 - 3.55 μin)
2.7 - 5.7 μm
(106 - 225 μin)
標準誤差
0.025μm(1μin)或5%相對偏差,以較大者為準
0.025μm(1μin)或5%相對偏差,以較大者為準
30 s時的精度(2σ),0.3 mm準直器
0.0025 μm @ 0.09 μm
(0.099 μin @ 3.55 μin)
0.026 μm @ 5.7 μm,8 %P
(1.02 μin @ 225 μin,8 %P)
Sn/Ni/Cu的典型性能
Sn
Ni
測試范圍
2.16 - 9.2 μm
(85 - 362 μin)
0.97 - 15.1 μm
(38 - 595 μin)
標準誤差
0.025μm(1μin)或5%相對偏差,以較大者為準
0.025μm(1μin)或5%相對偏差,以較大者為準
30 s時的精度(2σ),0.3 mm準直器
0.014 μm @ 4.9 μm
(0.55 μin @ 193 μin)
0.036 μm @ 4.7 μm
(1.42 μin @ 185 μin)
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