【主要功能】
采用磁性測(cè)量方法，可檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)。
● 中文菜單；
● 兩種工作方式；
● 數(shù)據(jù)刪除功能；
● 對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
● 電源欠壓指示；
● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式
● 兩種測(cè)量方式；
● 可儲(chǔ)存500個(gè)測(cè)量值；
● 可設(shè)置界限；
【技術(shù)參數(shù)】
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項(xiàng)目名稱
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Leeb230
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測(cè)頭類型
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F1
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測(cè)量原理
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磁感應(yīng)
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測(cè)量范圍
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0 ~ 1250um
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分辨率
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0.1um
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示值誤差
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一點(diǎn)校準(zhǔn)
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±（3%H+1）um
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二點(diǎn)校準(zhǔn)
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±[（1~3）%H+1]um
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測(cè)試條件
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*小曲率半徑
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凸1.5mm 凹9mm
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*小面積直徑
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φ7mm
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基本臨界厚度
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0.5mm
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工作環(huán)境
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溫度
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0 ~ 40℃
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濕度
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20% ~ 90%
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電源
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AAA堿性電池2節(jié)
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電壓
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3V
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工作時(shí)間
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100小時(shí)
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外形尺寸
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130*70*25 mm
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重量
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350g
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外殼材質(zhì)
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金屬外殼
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標(biāo)準(zhǔn)配置
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主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、F1探頭、堿性電池
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可選配件
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標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭
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PC通訊
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有
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儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
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探頭
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F400
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F1
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F1/90
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F10
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N400
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N1
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CN02
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測(cè)量原理
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磁性
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渦流
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測(cè)量范圍（μm）
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0～400
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0～1250
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0～10mm
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0～400
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0～12500
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10～200
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測(cè)量精度μm
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一點(diǎn)校準(zhǔn)
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±[(1～3)%H+0.7]
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±（3%H+1）
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±（3%H+10）
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±（3%H+1）
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±（3%H+1.5）
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±(3%H+1)
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二點(diǎn)校準(zhǔn)
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±（1～3％H+0.7）
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±[(1~3)%H+1]
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±[(1～3)%H+10]
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±[(1～3)%H+1]
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±[(1～3)%H+1.5]
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低限分辨率
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0.1
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0.1
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1
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0.1
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0.1
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1
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*小曲率半徑(mm)
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(凸)1
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1.5
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平直
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10
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1.5
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3
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僅為平面
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*小面積直徑(mm)
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￠3
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￠7
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￠40
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￠4
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￠5
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￠7
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基本臨界厚度(mm)
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0.2
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0.5
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2
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0.3
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0.3
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無限制
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測(cè)頭選用參考表
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覆蓋層基體
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有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等）
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非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
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覆蓋層厚度不超過100μm
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覆蓋層厚度超過100μm
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覆蓋層厚度不超過100μm
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覆蓋層厚度超過100μm
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如鐵、鋼等磁性金屬
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被測(cè)面積直徑大于30mm
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F400型測(cè)頭0～400μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
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F1型測(cè)頭
0～1250μm
F10型測(cè)頭
0～10μm
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F400型測(cè)頭0～400μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
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F1型測(cè)頭
0～1250μm
F10型測(cè)頭
0～10μm
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被測(cè)面積直徑小于30mm
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F400型測(cè)頭0～400μm
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F400型測(cè)頭0～400μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
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F400型測(cè)頭0～400μm
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F400型測(cè)頭0～400μm
F1型測(cè)頭
0～1250μm
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如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬
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被測(cè)面積直徑大于10mm
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N1型測(cè)頭0～1250μm
N400測(cè)頭0～400μm
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僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40μm N400測(cè)頭0～40μm
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被測(cè)面積直徑大于10mm
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N400測(cè)頭0～400μm
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N400測(cè)頭0～40μm
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塑料、印刷線路非金屬基體
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被測(cè)面積直徑大于7mm
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CN02型測(cè)頭10～200μm
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