粗糙度儀
· 低測力，應(yīng)用于太陽能硅片等粗糙度的測量，硅片表面線痕的測試。

· 大型 LCD 屏幕窗口,易于清晰讀取。 

· 使用觸控式面板（具抗污性）,操作簡易。 

· 可將數(shù)據(jù)儲存于記憶卡（選購品）。 

· 任意長度設(shè)定機能。 

· 僅按 PRINT 鍵即可藉由內(nèi)藏式打印機打印出量測之結(jié)果（可選擇不同之打印方式）。 

· 內(nèi)藏 充電電池,本體攜帶方便也可收置檢出器。 

· 擁有豐富的參數(shù)：自動校正機能、統(tǒng)計處理、合否判定機能、客戶自行編輯設(shè)計

· 能判定機能

技術(shù)參數(shù) ：

 平移范圍： 17.5mm （ 5" ） 
 測量范圍： 350μm （ ±150μm ） [12000μinch （ ±6000μinch ） ] 
 驅(qū)動 / 檢測元件 探測儀 :178-390/178-395 
 測頭 : 金剛石 
 測量力 :4mN/0.75mN 
 探測方式 : 微感應(yīng) 
 評定輪廓： P , R 
 估計參數(shù)： Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,P3z,mr 
 數(shù)字過濾： 2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50% 
 截至 λC ：0.25,0.8,2.5mm 
 波長 λS： 2.5,8μm 
 取樣長度（ L ）： 0.25,0.8,2.5mm 
 顯示 ：彩色 LCD 
 打印機：外置 
 數(shù)據(jù)輸出： 通過 RS232C 接口 /SPC 輸出 
 電源通過： AC 適配器 / 電池（可充電） 
 尺寸： 62×156.5×52mm 
 重量： 0.48kg