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連接時(shí),2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺(tái)儀器一樣運(yùn)行。2182A/622X 組合是電阻測(cè)量、脈沖式 I-V 測(cè)量和微分電導(dǎo)測(cè)量的理想工具,比其他解決方案具有更顯著的優(yōu)勢(shì)。Keithley 超低電阻配置 6220系列+2182A 組合也非常適合許多納米技術(shù)應(yīng)用,因?yàn)樗鼫y(cè)量電阻時(shí)可以不消耗被測(cè)器件 (DUT) 的太多功率,否則可能會(huì)導(dǎo)致結(jié)果無(wú)效,甚至損壞 DUT。
Keithley 超低電阻配置 6220系列+2182A 型號(hào):
| 電壓 | 電阻 | 源 | PC 接口 |
|---|---|---|---|
| 1nV-100V |
10n? - 100M? |
直流:±10fA – 100mA | RS-232、GPIB |
6221/2182A
| 電壓 | 電阻 | 源 | PC 接口 |
|---|---|---|---|
| 1nV – 100V |
10n? - 100M? |
直流:±10fA – 100mA |
RS-232、GPIB、LAN |
特點(diǎn)
優(yōu)勢(shì)
測(cè)量電阻范圍為 10n? 至 100M?
測(cè)量范圍非常廣,專門用于超低電阻測(cè)量,以檢定高導(dǎo)電性材料、納米材料和超導(dǎo)材料。
同步的電流脈沖源,測(cè)量時(shí)間短至 50μs
限制元器件(如納米器件和納米材料)中的功耗,如果以非常低的功率電平進(jìn)行測(cè)試,這些元器件很容易損壞。
增量模式電流反向、電阻測(cè)量技術(shù)
通過(guò)消除熱偏移影響以及將讀數(shù)噪聲降低到 30nV p-p 噪聲(典型值),進(jìn)行精度的超低電阻測(cè)量??梢詫?duì)多個(gè)讀數(shù)進(jìn)行平均,以更大程度地降低噪聲。
微分電導(dǎo)測(cè)量
比其他電導(dǎo)測(cè)量技術(shù)的速度快十倍,噪聲更小。無(wú)需平均多次掃描的結(jié)果,即可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的測(cè)量。
納伏表和電流源接口無(wú)縫配合
進(jìn)行微分電導(dǎo)和電阻測(cè)量時(shí),將這兩臺(tái)儀器作為一臺(tái)單獨(dú)的儀器來(lái)運(yùn)行。
增量、微分電導(dǎo)和脈沖模式產(chǎn)生miin.的電流瞬變
可以檢定可易被電流尖峰損壞的設(shè)備。
Keithley 超低電阻配置 6220系列+2182A 附件:見資料下載




