HP4286A的測量非常快。此外,在小測試電流(100μA)處優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率,因?yàn)樗璧娜∑骄^程非常短。 系統(tǒng)組建簡單測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點(diǎn)附近,而不會使誤差有任何增大。 內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
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