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產(chǎn)品詳情

NITTOSEIKO日東精工低電阻率自動測量系統(tǒng)

  • 產(chǎn)品名稱：NITTOSEIKO日東精工低電阻率自動測量系統(tǒng)
  • 產(chǎn)品型號：MCP-S330
  • 產(chǎn)品廠商：NITTOSEIKO日東精工
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹
特征 導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。 能夠繪制*大300mm見方的樣品并連續(xù)測量多個樣品。 可連接到 Loresta GX 以測量 10-4 至 10+7Ω 范圍 全自動測量、計算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出

NITTOSEIKO日東精工低電阻率自動測量系統(tǒng)

的詳細(xì)介紹

不受樣品形狀影響，**測量表面電阻率[Ω/?]和體積電阻率[Ω?cm]

  • 導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。
  • 能夠繪制*大300mm見方的樣品并連續(xù)測量多個樣品。
  • 可連接到 Loresta GX 以測量 10-4 至 10+7Ω 范圍
  • 全自動測量、計算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出

導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。

  • 隨著顯示器件（液晶和有機(jī)EL）要求具有更快的響應(yīng)速度和更高的清晰度，電極基板的均勻性變得更加重要。
  • 表面電阻率取決于材料。當(dāng)材料均勻時，薄膜越厚，表面電阻率越低。
  • 在薄膜領(lǐng)域，薄膜厚度變化通過表面電阻率繪圖來評估。
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