使用通常掃描電子顯微鏡時(shí)，面臨*大困難之一是被測(cè)樣品的大小限制，通常情況下，只能對(duì)直徑在數(shù)十到一百毫米內(nèi)小的樣本進(jìn)行研究且只有一兩種關(guān)聯(lián)的分析工具，這限制了這一重要測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用。LC-SEM克服了這一點(diǎn)，其超大真空室和光學(xué)系統(tǒng)擴(kuò)展視圖功能*大可容納直徑與高度分別達(dá)1.5米，重300kg的樣品，分辨率優(yōu)于10納米，放大倍數(shù)10倍-30萬(wàn)倍，真空度10^-6毫巴，加速電壓30kv。從一粒沙子到一個(gè)柴油發(fā)動(dòng)機(jī)大小的樣品，不必切小，僅用一臺(tái)儀器就可以做**的檢查。其足夠大的空間還可進(jìn)行原位觀察，實(shí)現(xiàn)零部件疲勞、應(yīng)力/應(yīng)變、磨損等非破壞性試驗(yàn)研究。