中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程
試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法
Basic environmental testing procedures for
electric and electronic products
Test Ka: Salt mist
GB/T 2423.17-93
代替GB 2423.17-8
本標(biāo)準(zhǔn)等效采用IEC 68-2-11《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法》（1981年第三版）。
1     主題內(nèi)容與適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)的鹽霧試驗(yàn)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于考核材料及其防護(hù)層的抗鹽霧腐蝕的能力，以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較，也可以用來(lái)考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。
本標(biāo)準(zhǔn)不適用作為通用的腐蝕試驗(yàn)方法。
2     引用標(biāo)準(zhǔn)
GB2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  總則
GB2422電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  名詞術(shù)語(yǔ)
GB2424.10 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則
3     對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求
3.1   用于制造試驗(yàn)設(shè)備的材料必須耐鹽霧腐蝕和不影響試驗(yàn)結(jié)果。
3.2   試驗(yàn)設(shè)備中工作空間的條件應(yīng)該保持在本標(biāo)準(zhǔn)第5章規(guī)定的限度之內(nèi)。
3.3   有足夠大的容積，并能提供均勻的試驗(yàn)條件，且試驗(yàn)時(shí)這些條件不受試驗(yàn)樣品的影響。
3.4   鹽霧不得直接噴射到試驗(yàn)樣品上。
3.5   試驗(yàn)設(shè)備工作空間內(nèi)頂部和內(nèi)壁，以及其他部位的冷凝液不得滴落在試驗(yàn)樣品上。
3.6   試驗(yàn)設(shè)備內(nèi)外氣壓必須平衡。
4     試驗(yàn)溶液
4.1鹽溶液采用氯化鈉（化學(xué)純、分析純）和蒸餾水或去離子水配制，其濃度為（5±0.1）%（質(zhì)量百分比）。霧化前的鹽溶液，除擋板擋回部分外，不得重復(fù)使用。
4.2 霧化前的鹽溶液的pH值在6.5~7.2(35±2℃)之間。配制鹽溶液時(shí)，可采用化學(xué)純的稀鹽酸或氫氧化鈉的溶液來(lái)調(diào)整pH值，但濃度仍須符合第4.1條的規(guī)定。
5     GB 2423 鹽霧試驗(yàn)方法  試驗(yàn)條件
5.1   試驗(yàn)設(shè)備的工作試驗(yàn)空間內(nèi)的溫度為35±2℃。
5.2   在工作空間內(nèi)任一位置，用面積為80cm2的漏斗收集連續(xù)霧化16h的鹽霧沉降量，平均每小時(shí)收集到1.0~2.0mL的溶液。
5.3   本標(biāo)準(zhǔn)采用連續(xù)霧化，推薦的試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間為16、24、48、96、168、336、672h。
5.4   霧化時(shí)必須防止油污、塵埃等雜質(zhì)和噴射空氣的溫、濕度影響工作空間的試驗(yàn)條件。
6     試驗(yàn)程序
6.1   初始檢測(cè)
試驗(yàn)前，試驗(yàn)樣品必須進(jìn)行外觀檢查，如果需要可按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行其他項(xiàng)目的性能測(cè)定。試驗(yàn)樣品表面必須干凈、無(wú)油污、無(wú)臨時(shí)性的保護(hù)層和其他弊病。
6.2   預(yù)處理
按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對(duì)即將試驗(yàn)的試驗(yàn)樣品進(jìn)行清潔，所用清潔方法應(yīng)不影響鹽霧對(duì)試驗(yàn)樣品的作用，試驗(yàn)前應(yīng)盡量避免用手直接觸摸試驗(yàn)樣品表面。
6.3   條件試驗(yàn)
6.3.1       試驗(yàn)樣品放置位置由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，一般按其正常使用狀態(tài)放置（包括外罩等）；平板試驗(yàn)樣品需使受試面與垂直方向成30°角。
6.3.2       試驗(yàn)樣品不得相互接觸，它們的間隙距離應(yīng)是不影響鹽霧能自由降落在試驗(yàn)樣品上，以及一個(gè)試驗(yàn)樣品上的鹽溶液不得滴落在其他試驗(yàn)樣品上。
6.3.3       試驗(yàn)樣品放置后按第5章規(guī)定的試驗(yàn)條件進(jìn)行條件試驗(yàn)，試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定從第5.3條的規(guī)定中選取。
6.4   恢復(fù)
試驗(yàn)結(jié)束后，用流動(dòng)水輕輕洗去試驗(yàn)樣品表面鹽沉積物，再在蒸餾水中漂洗，洗滌水溫不得超過(guò)35℃，然后在標(biāo)準(zhǔn)的恢復(fù)大氣條件下恢復(fù)1~2h，或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的其???恢復(fù)條件和恢復(fù)時(shí)間。
6.5   *后檢測(cè)
恢復(fù)后的試驗(yàn)樣品應(yīng)及時(shí)進(jìn)行檢查、測(cè)試并記錄結(jié)果。檢查項(xiàng)日、試驗(yàn)結(jié)果評(píng)定和合格要求均由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
4           引用本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)應(yīng)給出的細(xì)則
有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)采用本試驗(yàn)方法時(shí)，應(yīng)對(duì)下列項(xiàng)目作出具體規(guī)定：
a.       初始檢測(cè)（見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)第6.1條）；
b.       預(yù)處理（見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)第6.2條）；
c.       安裝細(xì)節(jié)（見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)6.3條）；
d.       試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間（見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)第5.3條）；
e.       恢復(fù)（見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)第6.4條）；
f.        *后檢測(cè)（見(jiàn)本標(biāo)準(zhǔn)6.5條）。

GB 2423 鹽霧試驗(yàn)方法
附加說(shuō)明：
本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)機(jī)械工業(yè)部提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由國(guó)內(nèi)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。
本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部廣州電器科學(xué)研究所負(fù)責(zé)起草。由電子工業(yè)部第五研究所、中國(guó)船舶工業(yè)部公司第七研究院標(biāo)準(zhǔn)化室、航空航天工業(yè)部301所、機(jī)械工業(yè)部上海電器科學(xué)研究所共同參加起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人章薔英、劉慧貞、謝鼎忠、夏越美、鐘開(kāi)華。