一、水平線性
1.定義：儀器水平線性是示波屏上時基線的水平刻度與實(shí)際聲程之間成正比的程度，即示波屏上多次底波等距離的程度。水平線性對缺陷定位有較大的影響。
水平線性用水平線性誤差表示。
2.測試步驟：
（1）將直探頭置于CSK--1A試塊的25mm厚大平底面上；
（2）通過[微調(diào)][水平][脈沖位移]等按鈕，使屏上出現(xiàn)5次底波B1--B5，當(dāng)?shù)撞˙1和B5的幅度分別為50％滿刻度時，將它們的前沿分別對準(zhǔn)刻度2.0和10.0。B1和B6的前沿位置在調(diào)整中如相互影響，則應(yīng)反復(fù)進(jìn)行調(diào)整。
a2、a3、a4分別為B2、B3、B4與4.0、6.0、8.0的偏差。
（3）水平線性誤差計(jì)算： 
ZBY230--84規(guī)定：儀器的水平線性誤差≤2% 例：用IIW或CSK-1A試塊測儀器的水平線性，現(xiàn)測得B1對準(zhǔn)2.0，B5對準(zhǔn)10.0時，B2、B3、B4與4.0、6.0、8.0的偏差分別為0.5、0.6、0.8;求其水平誤差為多少？
解：0.8
δ=------×100%=1%
0.8×100 二、垂直線性
1.定義：儀器垂直線性是示波屏上波高與探頭接收的信號幅值之間成正比的程度。它取決于儀器放大器的性能。垂直線性用垂直線性誤差表示。垂直線性影響缺陷的檢出和定量。
2.測試步驟：
（1）[抑制]至零，[衰減器]保留30dB衰減余量；
（2）將直探頭置于CSK--1A試塊的25mm厚大平底面上，????? 恒定壓力壓?。?br> （3）調(diào)節(jié)儀器使試塊上某次底波位于示波屏中央，并達(dá)到100%幅度，作為“0”dB;
（4）固定[增益]和其他旋鈕，調(diào)衰減器，每次衰減2dB,并記下相應(yīng)的波**填入表中，直到底波消失；
上表中：
理想相對波高是△i=2、4、6dB……時的波高比（如△i=6dB時的理想相對波高是50.1%）
三、計(jì)算垂直線性誤差
D=（ |d1|+|d2| ）
式中： d1--實(shí)測值與理想值的*大正偏差
d2--實(shí)測值與理想值的*大負(fù)偏差 ZBY230--84規(guī)定：儀器的垂直線性誤差D≤8% 三.探頭靈敏度
1.調(diào)節(jié)靈敏度的幾個旋鈕 - [發(fā)射強(qiáng)度] 調(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的輸出幅度，發(fā)射強(qiáng)度大靈敏度高，但分辨率低；
- [增益] 調(diào)節(jié)接收放大器的放大倍數(shù)，增益大靈敏度高；
- [抑制]限制檢波后信號的輸出幅度，主要用于抑制雜波、提高信噪比。使用[抑制]會使儀器的垂直線性變壞，動態(tài)范圍變小。[抑制]增加，靈敏度降低，盡量不要用[抑制]；
- [衰減器] 電路內(nèi)專用器件，用于定量地調(diào)節(jié)示波屏上的波高，它是步進(jìn)旋鈕。分：[粗調(diào)][細(xì)調(diào)]二檔，[粗調(diào)]步長10-20dB,[細(xì)調(diào)]步長1-2dB。CTS-6型總衰減量50db;CTS-22型則為80dB;
調(diào)節(jié)靈敏度的幾個旋鈕 - 《ZB Y230--84? A型脈沖反射超聲探傷通用技術(shù)條件》中規(guī)定：總衰減量不小于60dB;衰減誤差：1dB/12dB.
四、直探頭 + 儀器的靈敏度余量測試 - 探頭對準(zhǔn)200 / Φ2平底孔；
- [抑制]：0；[發(fā)射強(qiáng)度] [增益]：*大；
- 調(diào)[衰減器]使Φ2孔*高回波達(dá)滿刻度的50%（基準(zhǔn)高），這時衰減量為N1dB;
- 提起探頭，用[衰減器]將電噪聲電平衰減到10%以下，這時衰減量為N2dB;
- 靈敏度余量 N=N1-N2（dB）;
直探頭的靈敏度余量要求≥30dB
五、斜探頭 + 儀器的靈敏度余量測試 - 探頭對準(zhǔn)IIW試塊R100園弧面；
- [抑制]：0； [發(fā)射強(qiáng)度] [增益]：*大；
- 調(diào)[衰減器]使R100回波達(dá)滿刻度的50%（基準(zhǔn)高），這時衰減量為N1dB;
- 提起探頭，用[衰減器]將電噪聲電平衰減到10%以下，這時衰減量為N2dB;
- 靈敏度余量 N=N1-N2（dB）;
斜探頭的靈敏度余量要求≥40dB 七、探頭盲區(qū)測定
1 概念 - 盲區(qū)是指從探測面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷處的*小距離，即始脈沖寬度覆蓋區(qū)的距離。
- 盲區(qū)與近場區(qū)的區(qū)別：盲區(qū)是始脈沖寬度與放大器引起的，而近場區(qū)是波的干涉引起的。盲區(qū)內(nèi)缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)，而近場區(qū)內(nèi)缺陷可以發(fā)現(xiàn)但很難定量。
2 測定方法
方法（1）： - 先將直探頭在靈敏度試塊上用φ1平底孔調(diào)80%基準(zhǔn)高。
- 將直探頭放于盲區(qū)試塊上，能獨(dú)立顯示φ1平底孔回波的*小深度為盲區(qū)。
方法（2）： - 用IIW試塊估算
- 將直探頭放于IIW上方：能獨(dú)立顯示回波的，盲區(qū)≤5mm。無獨(dú)立回波的，盲區(qū)＞5mm。
- 將直探頭放于IIW左側(cè)：能獨(dú)立顯示回波的，盲區(qū)5～10mm。無獨(dú)立回波的，盲區(qū)＞10mm。
八 探頭分辨率
一、概念：示波屏上區(qū)分相鄰二缺陷的能力，能區(qū)分的相鄰二缺陷的距離愈小，分辨率就愈高。分辨率與儀器和探頭的質(zhì)量有關(guān)。
二、縱波直探頭分辨率測定 - 直探頭放于IIW試塊85、91、100處，[抑制]為0，左右移動探頭，使屏上出現(xiàn)A、B、C波；
- 若A、B、C不能分開，先將A、B等高，并取a1、b1值
求： a1
X=20 lg---- (dB)
b1
然后用[衰減器]使B、C等高，取相應(yīng)的a2、b2值
求： a2
Y=20 lg---- (dB)
b2
X、Y值愈大分辨率愈高，一般X、Y ≥ 15dB
九、橫波斜探頭分辨率測定 - 如圖,平行移動探頭，使A、B等高則分辨率：
h1
X=20lg-------(dB)
h2 - 平行移動探頭，使B、C等高則分辨率：
h3
Y=20lg------ (dB)
h4
要求：X或Y≥ 6dB
實(shí)測時，[衰減器]將h1衰減到h2即為X值，將h3衰減到h4即為Y值。 十、斜探頭的校準(zhǔn)
一、入射點(diǎn)、前沿測試 - 如圖，斜探頭入射到R100圓弧上，左右移動探頭找到*大反射回波；如果試塊上有圓心刻度，則刻度對應(yīng)處為入射點(diǎn)；如果試塊上無圓心刻度則用鋼尺量，使鋼尺100處對準(zhǔn)試塊圓弧端，鋼尺0點(diǎn)即為入射點(diǎn)；使鋼尺0點(diǎn)對準(zhǔn)探頭前端點(diǎn)，差值即為前沿。
二、斜探頭K值測試 - 如圖，斜探頭分別入射到試塊的二個圓上，左右移動探頭找到*大反射回波；探頭入射點(diǎn)所對應(yīng)的刻度即K
- 探頭K值的選擇原則:
(1)聲束掃查到整個焊縫截面;
(2)聲束盡量垂直于主要缺陷;
(3)有足夠的靈敏度和信噪比;
(4)有利于防止出現(xiàn)偽缺陷波。 十一、聲束偏轉(zhuǎn)角測定 - 概念：主聲束中心線與聲軸間的夾角稱為聲軸偏轉(zhuǎn)角。
- 測定：探頭置于試塊面上，旋轉(zhuǎn)移動找到*大回波，測定探頭中心線與試塊上表面垂線間的夾角。
錄象：入射點(diǎn)、前沿、斜探頭K值測試 |