美國GE粗晶探頭功能與介紹：
粗晶探頭
縱波探頭能適用于檢測粗晶材料、原始的鑄造材料，奧氏體和奧氏體焊縫等。
對于普通探頭，由于粗晶粒結(jié)構所產(chǎn)生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測粗晶材料時要選用特殊探頭。有些探頭可以檢測部奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結(jié)果，這主要取決于被檢測材料的聲學特性。
我們一直致力于解決這個問題，我們選擇不同焦點的單晶探頭和TR探頭進行實驗，得到檢測粗晶材料的*佳探頭參數(shù)。與此同時，我們得到了奧氏體材料制造商的大力支持。根據(jù)我們的經(jīng)驗和實驗，我們針對各種粗晶粒材料設計了相應的探頭，這些探頭都取得了*佳的效果。
此外，這些測試結(jié)果還獲得了*佳信噪比，并且所有的粗晶探頭都通過縱波探傷。
K 0.5 S K 1 S K 1 SM 這三個型號：高阻尼高靈敏度非常好的信噪比
B 0.5 SL B 1 SL 這二個型號：非常好的靈敏度高阻尼，高信噪比
K 1 SC 這個型號： 復合材料壓電晶片*好的靈敏度和信噪比
附件：1. 45度縱波楔塊（可以要求其他角度的楔塊）
2. 薄膜
3. 探頭線
縱波斜探頭—單晶系列，復合材料壓電晶片
WRY 45 WRY 60 WRY 70 WSY 45-2 WSY 60-2 WSY 70-2 WSY 45-4 WSY 60-4 WSY 70-4
要求的探頭線：MPKL 2
雙晶系列縱波斜探頭—復合材料壓電晶片
VRY 45 VRY 60 VRY 70 VSY 45 VSY 60 VSY 70
要求的探頭線：SEKL 2 SEKN 2
咨詢電話:0755-8398 1166 www.china-ge.net
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