三座標測頭的發(fā)展趨勢
從整體上考察,近年來無論哪類精密測頭主要向著精度更高、尺寸更小、互換性更好、綜合功能更強、數(shù)字化的方向發(fā)展.
目前的掃描式測頭,因結構復雜、體積大、價格昂貴,影響了其普及應用.掃描式測頭的發(fā)展方向就是在不影響其精度和掃描速度的同時,研制結構簡單、成本低的新型、高精度掃描式測頭.另外,具有較大量程、能伸入小孔、用于測量微型零件的測頭也在發(fā)展.特別指出,具有納米分辯率的微測頭是一個重要研究方向.而采用光柵傳感器的數(shù)字化精密測頭是掃描式測頭的普遍發(fā)展趨勢,其*終發(fā)展結果將出現(xiàn)智能化精密測頭.
由于觸發(fā)式測頭成本低、結構簡單,并能滿足常用的測量要求,在一定時期內(nèi)仍是市場上應用*多的測頭,其發(fā)展方向是尺寸小、集成度高、精度高、各向異性小.目前,Renishaw公司占據(jù)了該類測頭全世界90％的市場,在近期內(nèi)這種狀況還不會改變.
掃描測量方式雖然比點位測量方式效率高,但仍然受到觸測的限制.非接觸式測頭無需接觸,在運動中采樣測量,可避免精密量儀的頻繁加速、減速、碰撞等,從而大大提高了測量效率;又因為非接觸式測頭的測量力為零,可以測量各種柔軟、易于劃傷的工件;另外,可以形成很小光斑,對一些接觸測端不易伸入的部件進行測量,或?qū)σ恍┘毠?jié)進行測量,并且有很大的測量范圍;因此,精密測頭的應用趨勢就是非接觸式測頭將得到越來越廣泛的應用.