無差錯的產(chǎn)品在亞微米尺寸的檢驗
成本效益和快速測量系統(tǒng)從NanoFocus蓋在現(xiàn)代電子產(chǎn)品故障分析與測量任務的整個頻譜。新的產(chǎn)品和生產(chǎn)過程可以發(fā)展的更快和更容易的高分辨率測量系統(tǒng)的幫助。納米焦點技術有助于更緊湊的電子元件的發(fā)展。
在今天的電子產(chǎn)品生產(chǎn)中，小型化的趨勢提出了一個不斷的挑戰(zhàn)。其目的是降低成本和提供無差錯的產(chǎn)品。在這里，為每個元件的幾何公差的觀察如共面性很重要，分離和翹曲，以及粗糙度參數(shù)和體積。成本效益和快速測量系統(tǒng)從NanoFocus共聚焦顯微鏡在現(xiàn)代電子產(chǎn)品故障分析與測量任務的整個頻譜。
引線框架
在集成電路封裝中使用的引線框架，以滿足嚴格的要求。所有的個體接觸都必須位于一個單一的平面上，即它們必須是共面的，并有一個定義的表面粗糙度。組件也必須表明無翹曲。表面和引線框架的基地面積快速捕獲和使用儀器**。如共面性參數(shù)，分離的接觸，底板的變形和粗糙度轉(zhuǎn)移到協(xié)議分析。
根據(jù)基材，通過蝕刻在電路板生產(chǎn)中的導體軌道。在繼續(xù)安裝過程之前，必須先測量襯底材料和導體的軌道。的μ掃描技術可用于捕獲基板翹曲，以及導線幾何-所有在一個單一的測量過程。在電路板和導體軌道上的粗糙度也可以檢查獨立的材料在生產(chǎn)相關的質(zhì)量保證。與μ軟自動化軟件結果的評估是由NanoFocus根據(jù)客戶要求調(diào)整。
微凸點
納米焦點射線的μsprint技術，世界上*快的共焦傳感器，特別適合于非常小的間距測量微凸點。由于該傳感器的高分辨率和動態(tài)，高度和直徑，共平面性，和其他各種參數(shù)可以在幾秒鐘之內(nèi)測量晶圓以及陶瓷或塑料板。檢查可能的焊膏印刷后，回流過程后，或經(jīng)過壓印。此外，對電解沉積碰撞檢查，所謂的銅柱子，是可能的。
微孔
在多層電路板激光鉆孔的微孔，服務于各層之間的接觸。在生產(chǎn)故障或填充的微孔，導致*終產(chǎn)品的失敗。一個μsurf系列共聚焦顯微鏡電路板的非接觸檢測捕獲通過幾何（直徑、深度）。μsurf技術為用戶提供了一個測量系統(tǒng)，小微也可以捕捉到?jīng)]有問題。