近年來(lái)隨著高速半導(dǎo)體的技術(shù)大幅增加，高速系統(tǒng)與電路所組成的無(wú)線電機(jī)器、射頻儀器、信息設(shè)備等電子產(chǎn)品急速普及，也使得靠近這類型的機(jī)器必須對(duì)于本身容忍外來(lái)干擾的能力需加強(qiáng)，以免引起機(jī)器誤動(dòng)作或損傷，因此，如何讓儀器通過(guò)耐擾性測(cè)試(Immunity)就成了一個(gè)很大的考驗(yàn)，表一是IEC(國(guó)際電氣標(biāo)準(zhǔn)會(huì)議)中比較常見的標(biāo)準(zhǔn)。而EMS就是基于這樣的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)做為測(cè)試機(jī)器對(duì)于抗干擾的能力。常見的EMS測(cè)試有幾個(gè)，如圖一所示，以下就針對(duì)常見的EMS測(cè)試來(lái)做介紹。

 

表一 IEC標(biāo)準(zhǔn)系列(含審議中)

 

圖一 耐擾性測(cè)試的種類

靜電放電耐擾試驗(yàn)：所謂靜電放電耐擾測(cè)試是將人體所帶的靜電由人體放電的時(shí)候，模擬其脈沖(Pulse)的波型，來(lái)評(píng)估測(cè)試儀器受到靜電時(shí)的誤動(dòng)作情況。通常對(duì)于靜電放電的方式分成間接放電、直接放電、氣中放電等三種。所謂間接放電是指在金屬水平板上放置絕緣板，在絕緣板上為被測(cè)儀器，然后在金屬板上進(jìn)行放電；直接放電為直接在被測(cè)儀器的金屬邊框中直接進(jìn)行放電；氣中放電則是當(dāng)被測(cè)儀器的框體被絕緣體包覆住的情況下，在距離被測(cè)儀器框體10公分的地方配置0.5m x 0.5m的垂直金屬板，在金屬板上進(jìn)行放電。如圖二所示。

 

圖二 靜電的放電方法

輻射電磁場(chǎng)耐擾度試驗(yàn)：這個(gè)試驗(yàn)主要是仿真被測(cè)試儀器暴露在無(wú)線電信號(hào)與廣播設(shè)備等所產(chǎn)生的輻射電磁波下的狀態(tài)，來(lái)評(píng)估被測(cè)儀器的誤動(dòng)作情況。

傳導(dǎo)性雜音耐擾性試驗(yàn)：此試驗(yàn)針對(duì)經(jīng)由電源線或控制線進(jìn)入的噪聲試驗(yàn)，也多以脈沖(Impulse)試驗(yàn)稱之。通常試驗(yàn)的方**在被測(cè)機(jī)器的電源與接地間(Common Mode)、電源兩端間(Normal Mode)兩端測(cè)試，但是在交流的情況下，必須要另外考慮相位與脈沖的時(shí)間。

雷擊突波耐擾性試驗(yàn)：這個(gè)試驗(yàn)通常其電壓、電流、功率都相當(dāng)大，對(duì)于電子機(jī)器產(chǎn)生相當(dāng)大的威脅。電擊突波耐擾性試驗(yàn)可區(qū)分成電壓突波試驗(yàn)與電流突波試驗(yàn)兩種。如果被測(cè)機(jī)器的接地阻抗較大﹝<10MΩ﹞，可以只測(cè)量電壓突波試驗(yàn)，不過(guò)在100Ω以下的情況，就必須要做電流突波試驗(yàn)。

瞬間停電耐擾性試驗(yàn)：這個(gè)試驗(yàn)主要是因?yàn)樵诂F(xiàn)今的工廠或辦公室，甚至家庭中，會(huì)發(fā)生所謂的跳電或斷電，也就是電壓發(fā)生急速變動(dòng)讓機(jī)器造成損害。現(xiàn)今所有的領(lǐng)域中幾乎都采用計(jì)算機(jī)控制，由于電源的瞬間中段與電壓變動(dòng)引起誤動(dòng)作的話，有可能會(huì)產(chǎn)生一連串的連鎖反應(yīng)，所以這個(gè)試驗(yàn)是用來(lái)仿真電源電壓的瞬間停電與電壓變化。