國產高性價比EC-770涂層測厚儀采樣內置探頭，是一款雙功能涂層厚度測試儀器，儀器能夠自動識別基材材質，使用簡單、方便。具有**的性價比。
EC-770涂層測厚儀在磁感應和渦流效應模式下測量量程均為0~1300um，通過儀器上下限設置功能，非常適合需要快速檢測的場合。測量數據能夠通過USB接口直接上傳電腦。
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涂層測厚儀測試如何達到*佳測量精度
涂層測厚儀影響測量的因素
涂層測厚儀試片和磁場對厚度的影響
涂層測厚儀基體厚度對校準的影響
鐵基涂層測厚儀如何進行儀器校準
國產高性價比EC-770涂層測厚儀技術參數 1.測量原理：磁感應（F探頭）；渦流效應（N探頭） 2.測量范圍：0~1300um 3.測量誤差：± (讀數的3%+2um); 4.精度：0um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm); 5.校準：零點校準，并支持*多4點校準 6.數據存儲與分組：一個直接組（數據不保存）和四個通用組（數據可被保存），每組有單獨的統(tǒng)計，報警上下限設置和校準設置。 7.統(tǒng)計值：支持平均值、*小值、*大值和標準方差。 8.支持單位：um, mm, mils 9.報警：用戶可設置上下報警限，當發(fā)生報警時，液晶屏幕可顯示提示。 10.*小曲率半徑：凸1.5mm，凹25mm 11.*小測量面積：直徑6mm 12.*小基材厚度：0.5mm（F探頭）；0.3mm（N探頭） 13.電腦接口：可通過USB口連接計算機下載數據 14.電源：兩節(jié)1.5V AAA電池 15.操作溫度：0~40℃ 16.保存溫度：--20℃ to 70℃ 17.尺寸：110mm*53mm*24mm 18.重量：92g