SB2204型智能化介質(zhì)損耗測試儀
一．概述
SB2224型智能化介質(zhì)損耗測試儀是一種新穎的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容值（Cx）的數(shù)顯式儀器。用語在共頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容值（Cx）。儀器不僅可以測量兩個電極與地絕緣的試品，也可以測量一極接地的試品。與西林電容電橋相比，具有操作簡單、使用方便、讀數(shù)直觀、無需換算、抗干擾能力強等優(yōu)點。
二．技術(shù)指標(biāo)
環(huán)境溫度：0-40℃ 相對濕度：30%-80% 供電電源：電壓：220V±22V，頻率：50±1Hz
外型尺寸：1×b×h, mm：560×320×400 重量：不大于40kg 功耗：不大于15kvA
測量范圍：介質(zhì)損耗（tgδ）：±0-0.3 最小測量電流：5µA
輸出電壓及最大輸出電流：10kv(100mA)、 3kv（333mA）、1kv（500mA）。輸出電壓倍率：×1，×0.75，×0.5
基本測量誤差：
測量內(nèi)容
Tgδ范圍
測量電流（Icx）范圍及輸出電壓
工作方式
基本誤差
介質(zhì)損耗因數(shù)（tgδ）
tgδ≤0.1
20µA≤Icx≤500mA輸出電壓＞1Kv
正接線法
±（1%讀數(shù)+0.0008）
反接線法
±（1%讀數(shù)+0.0015）
10µA≤Icx﹤20µA輸出電壓＞1kv
±（2%讀數(shù)+0.0015）
±（2%讀數(shù)+0.0025）
5µA≤Icx﹤10µA輸出電壓≤1kv
正接線法和反接線法
0.1﹤tgδ≤
0.3
20µA≤Icx≤500mA
電容量
0≤tgδ≤0.3
5µA≤Icx≤500mA
±（2%讀數(shù)+1.5PF）
<bdo id="tndh4"></bdo>