隨著處理器工藝升級(jí)及各式各樣的節(jié)能技術(shù)，處理器功耗也相應(yīng)降低下來(lái)。但我們知道的是，處理器的低功耗并不意味著主板可以減少其供電相數(shù)，過(guò)少的供電相數(shù)會(huì)直接導(dǎo)致每相供電(電容、電感、MOS)處于高壓負(fù)載狀態(tài)，而至供電原件一直處于高溫狀態(tài)，長(zhǎng)期使用穩(wěn)定性可想而知。下面我們以目前主流平臺(tái)搭配（I3+H55），通過(guò)多路溫度測(cè)試儀來(lái)檢測(cè)主板供電部分中各個(gè)原件中的溫度，通過(guò)供電原件的工作溫度，從而側(cè)面反映平臺(tái)正處于什么狀態(tài)。
本次所使用的溫度檢測(cè)儀器，其**性及連續(xù)性都要比紅外溫度探測(cè)槍更為嚴(yán)謹(jǐn)，而且可以*高多達(dá)32路同時(shí)進(jìn)行測(cè)溫。我們使用該設(shè)備可以準(zhǔn)確的反映出供電原件的溫度。多路溫度測(cè)試儀采用模塊化設(shè)計(jì)，主機(jī)和探頭盒可以分離，就像以前的玩FC游戲一樣，把卡帶**去就可以了。

 本次測(cè)試使用兩套平臺(tái)，一套為擁有多相供電的H55主板，一套為僅3相供電的775主板，通過(guò)供電相數(shù)的溫度差別，來(lái)檢測(cè)供電相數(shù)的重要性。

對(duì)比三相供電的B平臺(tái)，MOS接近39度，電感為37度，PWM為40度，電容為37度

    通過(guò)多路溫度測(cè)試儀可以看到，無(wú)論是在空載狀態(tài)下又或是滿載狀態(tài)，安柏多路溫度測(cè)試儀AT4516是ARM微處理器控制的多路溫度測(cè)試儀，采樣多路并行測(cè)試，同時(shí)對(duì)8路溫度進(jìn)行采集、報(bào)警、和通訊傳輸。兼容多種溫度傳感器，響應(yīng)快，數(shù)據(jù)穩(wěn)定，同時(shí)具有斷偶檢測(cè)功能。