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成都貝斯達(dá)儀器有限公司
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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱(chēng)/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	電解測(cè)厚儀 ET-3	ET-3電解測(cè)厚儀單層測(cè)量品種：鎳（0）；鉻（1）；銅（2）；鋅（3）；鎘（4）；錫（5）；鉛（6）銀（7）；金（8）；銅/Zn（9）；鉻/T（10）；鎳/Fe（11）等，其它鍍層可定制。測(cè)量多層鎳厚度和電位差：亮鎳/高硫鎳/半光亮鎳/Cu/塑料，測(cè)量厚度的同時(shí)可測(cè)量溶解量（獨(dú)有），有效測(cè)量厚度范圍：0.03~300μm
	微電解測(cè)厚儀 ET-1C	ET-1C型微電解測(cè)厚儀簡(jiǎn)介單層測(cè)量品種：鎳（0）；鉻（1）；銅（2）；鋅（3）；鎘（4）；錫（5）；鉛（6）銀（7）；金（8）；銅/Zn（9）；鉻/T（10）；鎳/Fe（11）等，其它鍍層可定制。合金鍍層測(cè)量：Pd-Sn、Cu-Zn、Zn-Ni 、Ni-P等。多層鍍測(cè)量：陶瓷塑料、鐵、鋁、銅基體上鍍銅，再鍍鎳，然后鍍鉻。有效測(cè)量厚度范圍：0.03~300μm
	涂層測(cè)厚儀 BK8113	BK8113涂層測(cè)厚儀
	涂層測(cè)厚儀 PD-CT1	涂層測(cè)厚儀PD-CT1采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；具有兩種工作方式：直接方式(DRT)和批組方式(GRP)；
	磁性涂層測(cè)厚儀 MC-2000	MC-2000系列磁性涂層測(cè)厚儀是一款靈便、易用的涂層測(cè)厚儀儀器，配置的單探頭可檢測(cè)鐵質(zhì)基材上幾乎所有涂鍍覆層。
	涂層測(cè)厚儀 QNix4200	涂層測(cè)厚儀QNix4200和QNix4500這兩種型號(hào)一體化設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用極其簡(jiǎn)單。其中QNix4200為磁性測(cè)厚儀，可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測(cè)厚儀，不僅可以用來(lái)測(cè)量鋼鐵等磁性基體，還可以用來(lái)測(cè)量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個(gè)型號(hào)操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛(ài)。
	涂層測(cè)厚儀 QuaNix1200	零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。無(wú)需校準(zhǔn)：多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
	涂層測(cè)厚儀 QuaNix8500	涂層測(cè)厚儀QuaNix8500可選配件：(主機(jī)必選,探頭根據(jù)需要必選一種,探頭電纜線為可選) Fe鐵基普通探頭/無(wú)線探頭： 0－2000μm 0－5000μm NFe非鐵基普通探頭/無(wú)線探頭: 0－2000μm NFe/Fe兩用普通探頭/無(wú)線探頭：0－2000μm 0－5000μm Dangle（無(wú)線模塊）、探頭電纜線。計(jì)算機(jī)軟件
	鐵基涂層測(cè)厚儀CM-8821 CM-8821	鐵基涂層測(cè)厚儀CM-8821功能: 測(cè)量鐵磁性金屬基體上的非導(dǎo)磁涂層的厚度測(cè)量范圍: 0～1000um/0-40mil（標(biāo)準(zhǔn)量程）
	鐵基涂層測(cè)厚儀CM8820 CM8820	鐵基涂層測(cè)厚儀CM8820功能: 測(cè)量鐵磁性金屬基體上的非導(dǎo)磁涂層的厚度測(cè)量范圍: 0～2000um
	涂層測(cè)厚儀 AR930	AR930涂層測(cè)厚儀測(cè)量范圍 0-1250μm 測(cè)量精度 ±(3%H+1) 分辨率 1μm 系統(tǒng)誤差修正及零點(diǎn)校準(zhǔn)功能 √ 單次和連續(xù)測(cè)量方式轉(zhuǎn)換功能單個(gè)及成組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和刪除 √
	數(shù)字式涂層測(cè)厚儀 TT230	TT230數(shù)字式涂層測(cè)厚儀測(cè)頭類(lèi)型 N 測(cè)量原理電渦流測(cè)量范圍 0-1250um/0-40um(銅上鍍鉻) 低限分辨力 1µm(10um以下為0.1um) 探頭連接方式一體化
	覆層測(cè)厚儀 MIKROTEST 6	德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MIKROTEST 6系列覆層測(cè)厚儀，測(cè)量鋼鐵上所有非磁性涂鍍層厚度(如油漆、粉末涂層、塑料、橡膠、鋅、銅、錫和鎳等)。測(cè)量快速、*、無(wú)損。三十多年來(lái) MIKROTEST已成為被廣泛應(yīng)用的自動(dòng)測(cè)定涂鍍層厚度的專(zhuān)用儀器。德國(guó)的“決竅”說(shuō)明它在工藝技術(shù)及測(cè)量精度方面，具有磁性覆層測(cè)厚儀的高水準(zhǔn)。所有儀器均符合DIN、ISO、BS及ASTM標(biāo)準(zhǔn)。
	非鐵基涂層測(cè)厚儀CM-8823 CM-8823	非鐵基涂層測(cè)厚儀CM-8823功能: 測(cè)量鋁基上的非導(dǎo)電涂層的厚度測(cè)量范圍: 0～1000um/0-40mil（標(biāo)準(zhǔn)量程）
	金屬涂鍍層測(cè)厚儀 QuaNix7500	金屬涂鍍層測(cè)厚儀獨(dú)特的模塊化結(jié)構(gòu)無(wú)需電源開(kāi)關(guān)，只需輕輕一放，即可測(cè)定結(jié)果尼克斯系列測(cè)頭均可配套使用測(cè)頭可直接固定于儀器，也可通過(guò)電纜與之相連可提供存儲(chǔ)記憶測(cè)值，計(jì)算并顯示平均值、大值、小值等功能具備RS232接口，用于與計(jì)算機(jī)或小型打印機(jī)PT7相連接，配套的軟件提供了豐富的數(shù)據(jù)處理功能
	涂鍍層測(cè)厚儀 QuaNix1500	涂鍍層測(cè)厚儀內(nèi)置雙測(cè)頭的一體化結(jié)構(gòu)測(cè)量無(wú)需更換測(cè)頭，無(wú)需電源開(kāi)關(guān)操作簡(jiǎn)捷，只需輕輕一放，即可測(cè)定結(jié)果可提供存儲(chǔ)記憶測(cè)值，計(jì)算并顯示平均值、大值、小值等功能可提供RS232接口，用于與計(jì)算機(jī)或小型打印機(jī)PT7相連接，配套的軟件提供了豐富的數(shù)據(jù)處理功能
	濕膜測(cè)厚儀 1101	1101濕膜測(cè)厚儀對(duì)于新涂裝的涂料進(jìn)行濕膜厚度的測(cè)量足非常重要的。一方面，濕膜厚度影響產(chǎn)品的涂裝質(zhì)量，另一方面過(guò)厚的涂裝將會(huì)很昂貴。按照不同的施工方法，建議使用濕膜測(cè)厚儀測(cè)量濕膜厚度。
	塑料濕膜梳 Elcometer 154	Elcometer 154塑料濕膜梳為一次性使用的測(cè)量器具，針對(duì)ISO或用戶要求記錄濕膜厚度。每片濕膜梳上有公制和英制二種量程，一面為50~800μm，另一面為2~32mils。
	長(zhǎng)邊濕膜梳 Elcometer 3238	Elcometer 3238長(zhǎng)邊濕膜梳與Elcometer 115濕膜梳相似，Elcometer 3238提供更多的測(cè)量點(diǎn)（齒數(shù)）。有三種量程--可單獨(dú)提供，或每套3片。
	濕膜梳 Elcometer 115	Elcometer 115濕膜梳精密的不銹鋼材質(zhì)，經(jīng)久耐用，清洗后可重復(fù)使用。每片濕膜梳片上有公制和英制二種量程。4個(gè)量程供選，可測(cè)量的濕膜厚度上限為1270μm（50mils），有10個(gè)測(cè)量數(shù)值（齒數(shù)）。