衰減全反射光譜技術(shù)Attenuated total reflectance(ATR)
ATR是使用經(jīng)一次或多次的內(nèi)反射后結(jié)果而形成的衰減波evanescentwave，當(dāng)衰減波射在樣品成份會被吸收，造成反射光能量的損失，這與物質(zhì)的光譜會回歸到光譜檢測器上。這衰減波的穿透深度不大，約0.5-2.0mm。被測樣品的折射率是影響光程的主要因素，結(jié)果與被用于吸光物質(zhì)及在給定波長下非吸光的物質(zhì)濃度有關(guān)。因此在ATR的光譜中也含有非吸光物質(zhì)的信息,這也是ATR光譜區(qū)別于其它常規(guī)光譜的獨特之處。
ATR可用作非破壞性及非接觸式測量，除IR、NIR強(qiáng)穿透性外還可用于UV-VIS對粉質(zhì)、溶液及固體測量。特別是應(yīng)用于自動過程控制測量。
卡爾蔡司在這領(lǐng)域有著獨特的供應(yīng)及支援。
